Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects
S. Sadeghi-Kohan, S. Hellebrand, Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects, 32. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020, Ludwigsburg, 2020.

Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects
S. Sadeghi-Kohan, S. Hellebrand, in: 38th IEEE VLSI Test Symposium (VTS), IEEE, Virtual Conference - Originally San Diego, CA, USA, 2020.

Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects
S. Holst, M. Kampmann, A. Sprenger, J.D. Reimer, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, X. Weng, in: IEEE International Test Conference (ITC’20), November 2020, Virtual Conference - Originally Washington, DC, USA, 2020.

A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates
M.U. Maaz, A. Sprenger, S. Hellebrand, A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates, 31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19), Prien am Chiemsee, 2019.

Divide and Compact - Stochastic Space Compaction for Faster-than-At-Speed Test
A. Sprenger, S. Hellebrand, Journal of Circuits, Systems and Computers 28 (2019) 1–23.

Built-in Test for Hidden Delay Faults
M. Kampmann, M. A. Kochte, C. Liu, E. Schneider, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD) 38 (2019) 1956–1968.

A Hybrid Space Compactor for Adaptive X-Handling
M.U. Maaz, A. Sprenger, S. Hellebrand, in: 50th IEEE International Test Conference (ITC), IEEE, Washington, DC, USA, 2019, pp. 1–8.

Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest
A. Sprenger, S. Hellebrand, Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest, 30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18), Freiburg, Germany, 2018.

Guest Editors' Introduction - Special Issue on Approximate Computing
S. Hellebrand, J. Henkel, A. Raghunathan, H.-J. Wunderlich, IEEE Embedded Systems Letters 10 (2018) 1–1.

Design For Small Delay Test - A Simulation Study
M. Kampmann, S. Hellebrand, Microelectronics Reliability 80 (2018) 124–133.

Tuning Stochastic Space Compaction to Faster-than-at-Speed Test
A. Sprenger, S. Hellebrand, in: 2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits &; Systems (DDECS), IEEE, Budapest, Hungary, 2018.

Extending Aging Monitors for Early Life and Wear-Out Failure Prevention
C. Liu, E. Schneider, M. Kampmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 27th IEEE Asian Test Symposium (ATS’18), 2018.

Special Session on Early Life Failures
J. Deshmukh, W. Kunz, H.-J. Wunderlich, S. Hellebrand, in: 35th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’17), IEEE, Caesars Palace, Las Vegas, Nevada, USA, 2017.

X-tolerante Prüfzellengruppierung für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz
M. Kampmann, S. Hellebrand, X-Tolerante Prüfzellengruppierung Für Den Test Mit Erhöhter Betriebsfrequenz, 29. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’17), Lübeck, Germany, 2017.

Design-for-FAST: Supporting X-tolerant compaction during Faster-than-at-Speed Test
M. Kampmann, S. Hellebrand, in: 20th IEEE International Symposium on Design &; Diagnostics of Electronic Circuits &; Systems (DDECS’17), IEEE, 2017.

X Marks the Spot: Scan-Flip-Flop Clustering for Faster-than-at-Speed Test
M. Kampmann, S. Hellebrand, in: 25th IEEE Asian Test Symposium (ATS’16), IEEE, Hiroshima, Japan, 2016, pp. 1–6.

Optimized Selection of Frequencies for Faster-Than-at-Speed Test
M. Kampmann, M. A. Kochte, E. Schneider, T. Indlekofer, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 24th IEEE Asian Test Symposium (ATS’15), IEEE, Mumbai, India, 2015, pp. 109–114.

A High Performance SEU Tolerant Latch
Z. Huang, H. Liang, S. Hellebrand, Journal of Electronic Testing - Theory and Applications (JETTA) 31 (2015) 349–359.

Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler
S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H.-J. Wunderlich, Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler, 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.

FAST-BIST: Faster-than-at-Speed BIST Targeting Hidden Delay Defects
S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. A. Kochte, C. Liu, H.-J. Wunderlich, in: IEEE International Test Conference (ITC’14), IEEE, Seattle, Washington, USA, 2014.