Forward-Biased Silicon Phase Shifter Modelling for Electronic-Photonic Co-Simulation and Validation in a 250 nm EPIC BiCMOS Technology
T. Schwabe, C. Kress, S. Kruse, M. Weizel, H. Rhee, J.C. Scheytt, Journal of Lightwave Technology (2024) 1–16.

Testinstrumente und Testdatenanalyse zur Verarbeitung von Unsicherheiten in Logikblöcken hochintegrierter Schaltungen
A. Sprenger, Testinstrumente und Testdatenanalyse zur Verarbeitung von Unsicherheiten in Logikblöcken hochintegrierter Schaltungen, Universität Paderborn, Paderborn, 2023.