Cook, Alejandro, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich. Eingebaute Selbstdiagnose Mit Zufälligen Und Deterministischen Mustern. 24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany, 2012.
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Fröse, Viktor, Rüdiger Ibers, and Sybille Hellebrand. Testdatenkompression Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur. 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany, 2010.
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Coym, Torsten, Sybille Hellebrand, Stefan Ludwig, Bernd Straube, Hans-Joachim Wunderlich, and Christian G. Zoellin. Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich, 2008.
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Amgalan, Uranmandakh, Christian Hachmann, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich. Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich, 2008.
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Hellebrand, Sybille. Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing. 5th IEEE East-West Design \'26; Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk), 2007.
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Ali, Muhammad, Michael Welzl, Sven Hessler, and Sybille Hellebrand. An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips. DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster), 2007.
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Oehler, Philipp, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich. An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany, 2007.
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Oehler, Philipp, and Sybille Hellebrand. A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking. Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany, 2005.
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Ali, Muhammad, Michael Welzl, and Sybille Hellebrand. Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
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Oehler, Philipp, and Sybille Hellebrand. Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
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Hellebrand, Sybille, Armin Wuertenberger, and Christofer S. Tautermann. Data Compression for Multiple Scan Chains Using Dictionaries with Corrections. 9th IEEE European Test Symposium, Ajaccio, Corsica, France, 2004.
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Hellebrand, Sybille, and Armin Wuertenberger. Alternating Run-Length Coding: A Technique for Improved Test Data Compression. IEEE International Workshop on Test Resource Partitioning, Baltimore, MD, USA, 2002.
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Liang, Hua-Guo, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich. Two-Dimensional Test Data Compression for Scan-Based Deterministic BIST. IEEE European Test Workshop, Stockholm, Sweden, 2001.
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Hellebrand, Sybille, Hua-Guo Liang, and Hans-Joachim Wunderlich. A Mixed Mode BIST Scheme Based on Reseeding of Folding Counters. IEEE European Test Workshop, Cascais, Portugal, 2000.
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Hellebrand, Sybille, Hans-Joachim Wunderlich, and Vyacheslav N. Yarmolik. Exploiting Symmetries to Speed Up Transparent BIST. 11th GI/ITG/GMM/IEEE Workshop, 1999.
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N. Yarmolik, Vyacheslav, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich. Efficient Consistency Checking for Embedded Memories. 5th IEEE International Test Synthesis Workshop, Santa Barbara, CA, USA, 1998.
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N. Yarmolik, Vyacheslav, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich. Efficient Consistency Checking for Embedded Memories. 10th GI/ITG/GMM/IEEE Workshop, 1998.
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Tsai, Kun-Han, Sybille Hellebrand, Janusz Rajski, and Malgorzata Marek-Sadowska. STARBIST: Scan Autocorrelated Random Pattern Generation. 4th IEEE International Test Synthesis Workshop, Santa Barbara, CA, USA, 1997.
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Hertwig, Andre, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich. Synthesis of Fast On-Line Testable Controllers for Data-Dominated Applications. 3rd IEEE International On-Line Testing Workshop, Crete, Greece, 1997.
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Hellebrand, Sybille, and Hans-Joachim Wunderlich. Using Embedded Processors for BIST. 3rd IEEE International Test Synthesis Workshop, Santa Barbara, CA, 1996.
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