Ghazal, A., Sadeghi-Kohan, S., Reimer, J. D., &; Hellebrand, S. (2023). On Cryptography Effects on Interconnect Reliability. 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023.
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Sadeghi-Kohan, S., Hellebrand, S., &; Wunderlich, H.-J. (2022). EM-Aware Interconnect BIST. European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18, 2022.
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Gräßler, I., Grewe, B., &; Kramer, H. (2022). Supporting Business Model Generation with Augmented Reality. LUT Scientific and Expertise Publications. 33. ISPIM Innovation Conference “Innovating in a Digital World,” Copenhagen.
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Sadeghi-Kohan, S., &; Hellebrand, S. (2020). Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects. 32. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020.
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Maaz, M. U., Sprenger, A., &; Hellebrand, S. (2019). A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates. Prien am Chiemsee: 31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19).
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Sprenger, A., &; Hellebrand, S. (2018). Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest. Freiburg, Germany: 30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18).
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Kampmann, M., &; Hellebrand, S. (2018). Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion for Faster-than-at-Speed Test. 19th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China.
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Kampmann, M., &; Hellebrand, S. (2017). X-tolerante Prüfzellengruppierung für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz.
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Hellebrand, S., Indlekofer, T., Kampmann, M., Kochte, M., Liu, C., &; Wunderlich, H.-J. (2015). Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany.
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Cook, A., Rodriguez Gomez, L., Hellebrand, S., Indlekofer, T., &; Wunderlich, H.-J. (2013). Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults. 14th Latin American Test Workshop, Cordoba, Argentina.
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Cook, A., Hellebrand, S., &; Wunderlich, H.-J. (2012). Eingebaute Selbstdiagnose mit zufälligen und deterministischen Mustern. 24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany.
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Fröse, V., Ibers, R., &; Hellebrand, S. (2010). Testdatenkompression mit Hilfe der Netzwerkinfrastruktur. 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany.
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Coym, T., Hellebrand, S., Ludwig, S., Straube, B., Wunderlich, H.-J., &; G. Zoellin, C. (2008). Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich.
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Amgalan, U., Hachmann, C., Hellebrand, S., &; Wunderlich, H.-J. (2008). Testen mit Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute bei robusten Schaltungen. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich.
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Hellebrand, S. (2007). Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing. 5th IEEE East-West Design \'26; Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk).
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Ali, M., Welzl, M., Hessler, S., &; Hellebrand, S. (2007). An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips. DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster).
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Oehler, P., Hellebrand, S., &; Wunderlich, H.-J. (2007). An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany.
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Oehler, P., &; Hellebrand, S. (2005). A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking. Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany.
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Ali, M., Welzl, M., &; Hellebrand, S. (2005). Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria.
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Oehler, P., &; Hellebrand, S. (2005). Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria.
LibreCat: /record/13102