@bookGhazal_Sadeghi-Kohan_Reimer_Hellebrand_2023, place=Erfurt, Germany, title=On Cryptography Effects on Interconnect Reliability, publisher=35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, author=Ghazal, Abdulkarim and Sadeghi-Kohan, Somayeh and Reimer, Jan Dennis and Hellebrand, Sybille, year=2023 

@bookSadeghi-Kohan_Hellebrand_Wunderlich_2022, place=Online, title=EM-Aware Interconnect BIST, publisher=European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18, 2022, author=Sadeghi-Kohan, Somayeh and Hellebrand, Sybille and Wunderlich, Hans-Joachim, year=2022 

@inproceedingsGräßler_Grewe_Kramer_2022, place=Manchester, title=Supporting Business Model Generation with Augmented Reality, booktitle=LUT Scientific and Expertise Publications, author=Gräßler, Iris and Grewe, Benedikt and Kramer, Hendrik, year=2022 

@bookSadeghi-Kohan_Hellebrand_2020, place=Ludwigsburg, title=Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects, publisher=32. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020, author=Sadeghi-Kohan, Somayeh and Hellebrand, Sybille, year=2020 

@bookMaaz_Sprenger_Hellebrand_2019, place=Prien am Chiemsee, title=A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates, publisher=31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19), author=Maaz, Mohammad Urf and Sprenger, Alexander and Hellebrand, Sybille, year=2019 

@bookSprenger_Hellebrand_2018, place=Freiburg, Germany, title=Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest, publisher=30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18), author=Sprenger, Alexander and Hellebrand, Sybille, year=2018 

@bookKampmann_Hellebrand_2018, place=19th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China, title=Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion for Faster-than-at-Speed Test, author=Kampmann, Matthias and Hellebrand, Sybille, year=2018 

@bookKampmann_Hellebrand_2017, place=29. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’17), Lübeck, Germany, title=X-tolerante Prüfzellengruppierung für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz, author=Kampmann, Matthias and Hellebrand, Sybille, year=2017 

@bookHellebrand_Indlekofer_Kampmann_Kochte_Liu_Wunderlich_2015, place=27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, title=Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler, author=Hellebrand, Sybille and Indlekofer, Thomas and Kampmann, Matthias and Kochte, Michael and Liu, Chang and Wunderlich, Hans-Joachim, year=2015 

@bookCook_Rodriguez Gomez_Hellebrand_Indlekofer_Wunderlich_2013, place=14th Latin American Test Workshop, Cordoba, Argentina, title=Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults, author=Cook, Alejandro and Rodriguez Gomez, Laura and Hellebrand, Sybille and Indlekofer, Thomas and Wunderlich, Hans-Joachim, year=2013 

@bookCook_Hellebrand_Wunderlich_2012, place=24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany, title=Eingebaute Selbstdiagnose mit zufälligen und deterministischen Mustern, author=Cook, Alejandro and Hellebrand, Sybille and Wunderlich, Hans-Joachim, year=2012 

@bookFröse_Ibers_Hellebrand_2010, place=22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany, title=Testdatenkompression mit Hilfe der Netzwerkinfrastruktur, author=Fröse, Viktor and Ibers, Rüdiger and Hellebrand, Sybille, year=2010 

@bookCoym_Hellebrand_Ludwig_Straube_Wunderlich_G. Zoellin_2008, place=20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich, title=Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit, author=Coym, Torsten and Hellebrand, Sybille and Ludwig, Stefan and Straube, Bernd and Wunderlich, Hans-Joachim and G. Zoellin, Christian, year=2008 

@bookAmgalan_Hachmann_Hellebrand_Wunderlich_2008, place=20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich, title=Testen mit Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute bei robusten Schaltungen, author=Amgalan, Uranmandakh and Hachmann, Christian and Hellebrand, Sybille and Wunderlich, Hans-Joachim, year=2008 

@bookHellebrand_2007, place=5th IEEE East-West Design \'26; Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk), title=Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing, author=Hellebrand, Sybille, year=2007 

@bookAli_Welzl_Hessler_Hellebrand_2007, place=DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster), title=An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips, author=Ali, Muhammad and Welzl, Michael and Hessler, Sven and Hellebrand, Sybille, year=2007 

@bookOehler_Hellebrand_Wunderlich_2007, place=17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany, title=An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy, author=Oehler, Philipp and Hellebrand, Sybille and Wunderlich, Hans-Joachim, year=2007 

@bookOehler_Hellebrand_2005, place=Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany, title=A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking, author=Oehler, Philipp and Hellebrand, Sybille, year=2005 

@bookAli_Welzl_Hellebrand_2005, place=17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, title=Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs, author=Ali, Muhammad and Welzl, Michael and Hellebrand, Sybille, year=2005 

@bookOehler_Hellebrand_2005, place=17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, title=Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study, author=Oehler, Philipp and Hellebrand, Sybille, year=2005