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Sadeghi-Kohan S, Hellebrand S, Wunderlich H-J. EM-Aware Interconnect BIST. European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18, 2022; 2022.
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Gräßler I, Grewe B, Kramer H. Supporting Business Model Generation with Augmented Reality. In: LUT Scientific and Expertise Publications. ; 2022.
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Sadeghi-Kohan S, Hellebrand S. Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects. 32. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020; 2020.
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Maaz MU, Sprenger A, Hellebrand S. A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates. Prien am Chiemsee: 31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19); 2019.
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Sprenger A, Hellebrand S. Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest. Freiburg, Germany: 30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18); 2018.
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Kampmann M, Hellebrand S. Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion for Faster-than-at-Speed Test. 19th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China; 2018.
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Kampmann M, Hellebrand S. X-Tolerante Prüfzellengruppierung Für Den Test Mit Erhöhter Betriebsfrequenz.; 2017.
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Hellebrand S, Indlekofer T, Kampmann M, Kochte M, Liu C, Wunderlich H-J. Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany; 2015.
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Cook A, Rodriguez Gomez L, Hellebrand S, Indlekofer T, Wunderlich H-J. Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults. 14th Latin American Test Workshop, Cordoba, Argentina; 2013.
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Cook A, Hellebrand S, Wunderlich H-J. Eingebaute Selbstdiagnose Mit Zufälligen Und Deterministischen Mustern. 24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany; 2012.
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Fröse V, Ibers R, Hellebrand S. Testdatenkompression Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur. 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany; 2010.
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Coym T, Hellebrand S, Ludwig S, Straube B, Wunderlich H-J, G. Zoellin C. Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich; 2008.
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Amgalan U, Hachmann C, Hellebrand S, Wunderlich H-J. Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich; 2008.
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Hellebrand S. Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing. 5th IEEE East-West Design \'26; Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk); 2007.
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Ali M, Welzl M, Hessler S, Hellebrand S. An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips. DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster); 2007.
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Oehler P, Hellebrand S, Wunderlich H-J. An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany; 2007.
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Oehler P, Hellebrand S. A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking. Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany; 2005.
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Ali M, Welzl M, Hellebrand S. Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria; 2005.
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Oehler P, Hellebrand S. Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria; 2005.
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