---
_id: '35204'
author:
- first_name: Abdulkarim
  full_name: Ghazal, Abdulkarim
  last_name: Ghazal
- first_name: Somayeh
  full_name: Sadeghi-Kohan, Somayeh
  id: '78614'
  last_name: Sadeghi-Kohan
- first_name: Jan Dennis
  full_name: Reimer, Jan Dennis
  id: '36703'
  last_name: Reimer
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: Ghazal A, Sadeghi-Kohan S, Reimer JD, Hellebrand S. <i>On Cryptography Effects
    on Interconnect Reliability</i>. 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023; 2023.
  apa: Ghazal, A., Sadeghi-Kohan, S., Reimer, J. D., &#38; Hellebrand, S. (2023).
    <i>On Cryptography Effects on Interconnect Reliability</i>. 35. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023.
  bibtex: '@book{Ghazal_Sadeghi-Kohan_Reimer_Hellebrand_2023, place={Erfurt, Germany},
    title={On Cryptography Effects on Interconnect Reliability}, publisher={35. Workshop
    “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb.
    2023}, author={Ghazal, Abdulkarim and Sadeghi-Kohan, Somayeh and Reimer, Jan Dennis
    and Hellebrand, Sybille}, year={2023} }'
  chicago: 'Ghazal, Abdulkarim, Somayeh Sadeghi-Kohan, Jan Dennis Reimer, and Sybille
    Hellebrand. <i>On Cryptography Effects on Interconnect Reliability</i>. Erfurt,
    Germany: 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”
    (TuZ’23), Feb. 2023, 2023.'
  ieee: 'A. Ghazal, S. Sadeghi-Kohan, J. D. Reimer, and S. Hellebrand, <i>On Cryptography
    Effects on Interconnect Reliability</i>. Erfurt, Germany: 35. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, 2023.'
  mla: Ghazal, Abdulkarim, et al. <i>On Cryptography Effects on Interconnect Reliability</i>.
    35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23),
    Feb. 2023, 2023.
  short: A. Ghazal, S. Sadeghi-Kohan, J.D. Reimer, S. Hellebrand, On Cryptography
    Effects on Interconnect Reliability, 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, Erfurt, Germany, 2023.
date_created: 2023-01-04T10:20:41Z
date_updated: 2023-04-06T21:06:37Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
page: '2'
place: Erfurt, Germany
publisher: 35. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'23), Feb. 2023
status: public
title: On Cryptography Effects on Interconnect Reliability
type: misc
user_id: '36703'
year: '2023'
...
---
_id: '29890'
author:
- first_name: Somayeh
  full_name: Sadeghi-Kohan, Somayeh
  id: '78614'
  last_name: Sadeghi-Kohan
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
- first_name: Hans-Joachim
  full_name: Wunderlich, Hans-Joachim
  last_name: Wunderlich
citation:
  ama: Sadeghi-Kohan S, Hellebrand S, Wunderlich H-J. <i>EM-Aware Interconnect BIST</i>.
    European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18, 2022; 2022.
  apa: Sadeghi-Kohan, S., Hellebrand, S., &#38; Wunderlich, H.-J. (2022). <i>EM-Aware
    Interconnect BIST</i>. European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March
    18, 2022.
  bibtex: '@book{Sadeghi-Kohan_Hellebrand_Wunderlich_2022, place={Online}, title={EM-Aware
    Interconnect BIST}, publisher={European Workshop on Silicon Lifecycle Management,
    March 18, 2022}, author={Sadeghi-Kohan, Somayeh and Hellebrand, Sybille and Wunderlich,
    Hans-Joachim}, year={2022} }'
  chicago: 'Sadeghi-Kohan, Somayeh, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich.
    <i>EM-Aware Interconnect BIST</i>. Online: European Workshop on Silicon Lifecycle
    Management, March 18, 2022, 2022.'
  ieee: 'S. Sadeghi-Kohan, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, <i>EM-Aware Interconnect
    BIST</i>. Online: European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18,
    2022, 2022.'
  mla: Sadeghi-Kohan, Somayeh, et al. <i>EM-Aware Interconnect BIST</i>. European
    Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18, 2022, 2022.
  short: S. Sadeghi-Kohan, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, EM-Aware Interconnect
    BIST, European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18, 2022, Online,
    2022.
date_created: 2022-02-19T14:21:24Z
date_updated: 2022-05-11T17:07:24Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
page: '2'
place: Online
publication_status: published
publisher: European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18, 2022
status: public
title: EM-Aware Interconnect BIST
type: misc
user_id: '209'
year: '2022'
...
---
_id: '33914'
abstract:
- lang: eng
  text: Workshops on business model generation lead to collaborative work phases and
    discussions on business models. Therefore, tools such as the Business Model Canvas
    are used, typically filled with sticky notes. Generated content needs to be digitized
    in a time-consuming manual follow-up as part of the documentation and basis for
    a further use of the results in the company. In addition, there are challenges,
    such as decentralized work and digital workshop formats. Augmented Reality offers
    a way to reduce the digitization effort and enables decentralized work. In this
    research, the potentials of the use of AR technology in workshops on business
    model generation is investigated. Therefore, functions are implemented and evaluated
    in a demonstrator that reduces digitization effort and enable distributed work.
author:
- first_name: Iris
  full_name: Gräßler, Iris
  id: '47565'
  last_name: Gräßler
  orcid: 0000-0001-5765-971X
- first_name: Benedikt
  full_name: Grewe, Benedikt
  id: '52359'
  last_name: Grewe
- first_name: Hendrik
  full_name: Kramer, Hendrik
  last_name: Kramer
citation:
  ama: 'Gräßler I, Grewe B, Kramer H. Supporting Business Model Generation with Augmented
    Reality. In: <i>LUT Scientific and Expertise Publications</i>. ; 2022.'
  apa: Gräßler, I., Grewe, B., &#38; Kramer, H. (2022). Supporting Business Model
    Generation with Augmented Reality. <i>LUT Scientific and Expertise Publications</i>.
    33. ISPIM Innovation Conference “Innovating in a Digital World,” Copenhagen.
  bibtex: '@inproceedings{Gräßler_Grewe_Kramer_2022, place={Manchester}, title={Supporting
    Business Model Generation with Augmented Reality}, booktitle={LUT Scientific and
    Expertise Publications}, author={Gräßler, Iris and Grewe, Benedikt and Kramer,
    Hendrik}, year={2022} }'
  chicago: Gräßler, Iris, Benedikt Grewe, and Hendrik Kramer. “Supporting Business
    Model Generation with Augmented Reality.” In <i>LUT Scientific and Expertise Publications</i>.
    Manchester, 2022.
  ieee: I. Gräßler, B. Grewe, and H. Kramer, “Supporting Business Model Generation
    with Augmented Reality,” presented at the 33. ISPIM Innovation Conference “Innovating
    in a Digital World,” Copenhagen, 2022.
  mla: Gräßler, Iris, et al. “Supporting Business Model Generation with Augmented
    Reality.” <i>LUT Scientific and Expertise Publications</i>, 2022.
  short: 'I. Gräßler, B. Grewe, H. Kramer, in: LUT Scientific and Expertise Publications,
    Manchester, 2022.'
conference:
  end_date: 2022-06-08
  location: Copenhagen
  name: 33. ISPIM Innovation Conference "Innovating in a Digital World"
  start_date: 2022-06-05
date_created: 2022-10-27T13:20:22Z
date_updated: 2022-10-27T13:29:49Z
ddc:
- '620'
department:
- _id: '152'
has_accepted_license: '1'
keyword:
- business model generation
- augmented reality
- workshop
- collaborative work
- digitization
- AR-supported workshop concept
- immersive technologies
- decentralized work
- business model canvas
language:
- iso: eng
place: Manchester
publication: LUT Scientific and Expertise Publications
publication_identifier:
  unknown:
  - 978-952-335-694-8
publication_status: published
quality_controlled: '1'
status: public
title: Supporting Business Model Generation with Augmented Reality
type: conference
user_id: '52359'
year: '2022'
...
---
_id: '15419'
author:
- first_name: Somayeh
  full_name: Sadeghi-Kohan, Somayeh
  id: '78614'
  last_name: Sadeghi-Kohan
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: Sadeghi-Kohan S, Hellebrand S. <i>Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden
    Interconnect Defects</i>. 32. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen
    und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020; 2020.
  apa: Sadeghi-Kohan, S., &#38; Hellebrand, S. (2020). <i>Dynamic Multi-Frequency
    Test Method for Hidden Interconnect Defects</i>. 32. Workshop “Testmethoden und
    Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020.
  bibtex: '@book{Sadeghi-Kohan_Hellebrand_2020, place={Ludwigsburg}, title={Dynamic
    Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects}, publisher={32. Workshop
    “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16.
    - 18. Februar 2020}, author={Sadeghi-Kohan, Somayeh and Hellebrand, Sybille},
    year={2020} }'
  chicago: 'Sadeghi-Kohan, Somayeh, and Sybille Hellebrand. <i>Dynamic Multi-Frequency
    Test Method for Hidden Interconnect Defects</i>. Ludwigsburg: 32. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar
    2020, 2020.'
  ieee: 'S. Sadeghi-Kohan and S. Hellebrand, <i>Dynamic Multi-Frequency Test Method
    for Hidden Interconnect Defects</i>. Ludwigsburg: 32. Workshop “Testmethoden und
    Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020,
    2020.'
  mla: Sadeghi-Kohan, Somayeh, and Sybille Hellebrand. <i>Dynamic Multi-Frequency
    Test Method for Hidden Interconnect Defects</i>. 32. Workshop “Testmethoden und
    Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020,
    2020.
  short: S. Sadeghi-Kohan, S. Hellebrand, Dynamic Multi-Frequency Test Method for
    Hidden Interconnect Defects, 32. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von
    Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020, Ludwigsburg, 2020.
date_created: 2019-12-29T16:13:58Z
date_updated: 2022-04-04T12:30:02Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
page: '4'
place: Ludwigsburg
publication_status: published
publisher: 32. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'20), 16. - 18. Februar 2020
status: public
title: Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects
type: misc
user_id: '209'
year: '2020'
...
---
_id: '8112'
author:
- first_name: Mohammad Urf
  full_name: Maaz, Mohammad Urf
  id: '49274'
  last_name: Maaz
- first_name: Alexander
  full_name: Sprenger, Alexander
  id: '22707'
  last_name: Sprenger
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: 'Maaz MU, Sprenger A, Hellebrand S. <i>A Hybrid Space Compactor for Varying
    X-Rates</i>. Prien am Chiemsee: 31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19); 2019.'
  apa: 'Maaz, M. U., Sprenger, A., &#38; Hellebrand, S. (2019). <i>A Hybrid Space
    Compactor for Varying X-Rates</i>. Prien am Chiemsee: 31. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19).'
  bibtex: '@book{Maaz_Sprenger_Hellebrand_2019, place={Prien am Chiemsee}, title={A
    Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates}, publisher={31. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19)}, author={Maaz, Mohammad
    Urf and Sprenger, Alexander and Hellebrand, Sybille}, year={2019} }'
  chicago: 'Maaz, Mohammad Urf, Alexander Sprenger, and Sybille Hellebrand. <i>A Hybrid
    Space Compactor for Varying X-Rates</i>. Prien am Chiemsee: 31. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19), 2019.'
  ieee: 'M. U. Maaz, A. Sprenger, and S. Hellebrand, <i>A Hybrid Space Compactor for
    Varying X-Rates</i>. Prien am Chiemsee: 31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19), 2019.'
  mla: Maaz, Mohammad Urf, et al. <i>A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates</i>.
    31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19),
    2019.
  short: M.U. Maaz, A. Sprenger, S. Hellebrand, A Hybrid Space Compactor for Varying
    X-Rates, 31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”
    (TuZ’19), Prien am Chiemsee, 2019.
date_created: 2019-02-26T15:11:02Z
date_updated: 2022-01-06T07:03:51Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: Prien am Chiemsee
publisher: 31. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'19)
status: public
title: A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates
type: misc
user_id: '209'
year: '2019'
...
---
_id: '4576'
author:
- first_name: Alexander
  full_name: Sprenger, Alexander
  id: '22707'
  last_name: Sprenger
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: 'Sprenger A, Hellebrand S. <i>Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest</i>.
    Freiburg, Germany: 30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen
    und Systemen” (TuZ’18); 2018.'
  apa: 'Sprenger, A., &#38; Hellebrand, S. (2018). <i>Stochastische Kompaktierung
    für den Hochgeschwindigkeitstest</i>. Freiburg, Germany: 30. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18).'
  bibtex: '@book{Sprenger_Hellebrand_2018, place={Freiburg, Germany}, title={Stochastische
    Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest}, publisher={30. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18)}, author={Sprenger,
    Alexander and Hellebrand, Sybille}, year={2018} }'
  chicago: 'Sprenger, Alexander, and Sybille Hellebrand. <i>Stochastische Kompaktierung
    für den Hochgeschwindigkeitstest</i>. Freiburg, Germany: 30. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18), 2018.'
  ieee: 'A. Sprenger and S. Hellebrand, <i>Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest</i>.
    Freiburg, Germany: 30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen
    und Systemen” (TuZ’18), 2018.'
  mla: Sprenger, Alexander, and Sybille Hellebrand. <i>Stochastische Kompaktierung
    für den Hochgeschwindigkeitstest</i>. 30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18), 2018.
  short: A. Sprenger, S. Hellebrand, Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest,
    30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18),
    Freiburg, Germany, 2018.
date_created: 2018-10-02T12:29:44Z
date_updated: 2022-01-06T07:01:13Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: ger
place: Freiburg, Germany
publisher: 30. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'18)
status: public
title: Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest
type: misc
user_id: '22707'
year: '2018'
...
---
_id: '13072'
author:
- first_name: Matthias
  full_name: Kampmann, Matthias
  id: '10935'
  last_name: Kampmann
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  last_name: Hellebrand
citation:
  ama: Kampmann M, Hellebrand S. <i>Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion
    for Faster-than-at-Speed Test</i>. 19th Workshop on RTL and High Level Testing
    (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China; 2018.
  apa: Kampmann, M., &#38; Hellebrand, S. (2018). <i>Optimized Constraints for Scan-Chain
    Insertion for Faster-than-at-Speed Test</i>. 19th Workshop on RTL and High Level
    Testing (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China.
  bibtex: '@book{Kampmann_Hellebrand_2018, place={19th Workshop on RTL and High Level
    Testing (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China}, title={Optimized Constraints for Scan-Chain
    Insertion for Faster-than-at-Speed Test}, author={Kampmann, Matthias and Hellebrand,
    Sybille}, year={2018} }'
  chicago: Kampmann, Matthias, and Sybille Hellebrand. <i>Optimized Constraints for
    Scan-Chain Insertion for Faster-than-at-Speed Test</i>. 19th Workshop on RTL and
    High Level Testing (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China, 2018.
  ieee: M. Kampmann and S. Hellebrand, <i>Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion
    for Faster-than-at-Speed Test</i>. 19th Workshop on RTL and High Level Testing
    (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China, 2018.
  mla: Kampmann, Matthias, and Sybille Hellebrand. <i>Optimized Constraints for Scan-Chain
    Insertion for Faster-than-at-Speed Test</i>. 2018.
  short: M. Kampmann, S. Hellebrand, Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion
    for Faster-than-at-Speed Test, 19th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT’18),
    Hefei, Anhui, China, 2018.
date_created: 2019-08-28T12:00:28Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:28Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 19th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT'18), Hefei, Anhui, China
status: public
title: Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion for Faster-than-at-Speed Test
type: misc
user_id: '659'
year: '2018'
...
---
_id: '13078'
author:
- first_name: Matthias
  full_name: Kampmann, Matthias
  id: '10935'
  last_name: Kampmann
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: Kampmann M, Hellebrand S. <i>X-Tolerante Prüfzellengruppierung Für Den Test
    Mit Erhöhter Betriebsfrequenz</i>.; 2017.
  apa: Kampmann, M., &#38; Hellebrand, S. (2017). <i>X-tolerante Prüfzellengruppierung
    für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz</i>.
  bibtex: '@book{Kampmann_Hellebrand_2017, place={29. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’17), Lübeck, Germany}, title={X-tolerante Prüfzellengruppierung
    für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz}, author={Kampmann, Matthias and Hellebrand,
    Sybille}, year={2017} }'
  chicago: Kampmann, Matthias, and Sybille Hellebrand. <i>X-Tolerante Prüfzellengruppierung
    Für Den Test Mit Erhöhter Betriebsfrequenz</i>. 29. Workshop “Testmethoden und
    Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’17), Lübeck, Germany, 2017.
  ieee: M. Kampmann and S. Hellebrand, <i>X-tolerante Prüfzellengruppierung für den
    Test mit erhöhter Betriebsfrequenz</i>. 29. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’17), Lübeck, Germany, 2017.
  mla: Kampmann, Matthias, and Sybille Hellebrand. <i>X-Tolerante Prüfzellengruppierung
    Für Den Test Mit Erhöhter Betriebsfrequenz</i>. 2017.
  short: M. Kampmann, S. Hellebrand, X-Tolerante Prüfzellengruppierung Für Den Test
    Mit Erhöhter Betriebsfrequenz, 29. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’17), Lübeck, Germany, 2017.
date_created: 2019-08-28T12:06:26Z
date_updated: 2022-05-11T16:17:41Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 29. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'17), Lübeck, Germany
status: public
title: X-tolerante Prüfzellengruppierung für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz
type: misc
user_id: '209'
year: '2017'
...
---
_id: '13077'
author:
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
- first_name: Thomas
  full_name: Indlekofer, Thomas
  last_name: Indlekofer
- first_name: Matthias
  full_name: Kampmann, Matthias
  id: '10935'
  last_name: Kampmann
- first_name: Michael
  full_name: Kochte, Michael
  last_name: Kochte
- first_name: Chang
  full_name: Liu, Chang
  last_name: Liu
- first_name: Hans-Joachim
  full_name: Wunderlich, Hans-Joachim
  last_name: Wunderlich
citation:
  ama: Hellebrand S, Indlekofer T, Kampmann M, Kochte M, Liu C, Wunderlich H-J. <i>Effiziente
    Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop
    “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad
    Urach, Germany; 2015.
  apa: Hellebrand, S., Indlekofer, T., Kampmann, M., Kochte, M., Liu, C., &#38; Wunderlich,
    H.-J. (2015). <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler</i>.
    27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15),
    Bad Urach, Germany.
  bibtex: '@book{Hellebrand_Indlekofer_Kampmann_Kochte_Liu_Wunderlich_2015, place={27.
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15),
    Bad Urach, Germany}, title={Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test
    kleiner Verzögerungsfehler}, author={Hellebrand, Sybille and Indlekofer, Thomas
    and Kampmann, Matthias and Kochte, Michael and Liu, Chang and Wunderlich, Hans-Joachim},
    year={2015} }'
  chicago: Hellebrand, Sybille, Thomas Indlekofer, Matthias Kampmann, Michael Kochte,
    Chang Liu, and Hans-Joachim Wunderlich. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen
    Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.
  ieee: S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, and H.-J. Wunderlich,
    <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler</i>.
    27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15),
    Bad Urach, Germany, 2015.
  mla: Hellebrand, Sybille, et al. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den
    Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 2015.
  short: S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H.-J. Wunderlich,
    Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler,
    27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15),
    Bad Urach, Germany, 2015.
date_created: 2019-08-28T12:05:44Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:28Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- Workshop
language:
- iso: eng
place: 27. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'15), Bad Urach, Germany
status: public
title: Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler
type: misc
user_id: '659'
year: '2015'
...
---
_id: '13075'
author:
- first_name: Alejandro
  full_name: Cook, Alejandro
  last_name: Cook
- first_name: Laura
  full_name: Rodriguez Gomez, Laura
  last_name: Rodriguez Gomez
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
- first_name: Thomas
  full_name: Indlekofer, Thomas
  last_name: Indlekofer
- first_name: Hans-Joachim
  full_name: Wunderlich, Hans-Joachim
  last_name: Wunderlich
citation:
  ama: Cook A, Rodriguez Gomez L, Hellebrand S, Indlekofer T, Wunderlich H-J. <i>Adaptive
    Test and Diagnosis of Intermittent Faults</i>. 14th Latin American Test Workshop,
    Cordoba, Argentina; 2013.
  apa: Cook, A., Rodriguez Gomez, L., Hellebrand, S., Indlekofer, T., &#38; Wunderlich,
    H.-J. (2013). <i>Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults</i>. 14th
    Latin American Test Workshop, Cordoba, Argentina.
  bibtex: '@book{Cook_Rodriguez Gomez_Hellebrand_Indlekofer_Wunderlich_2013, place={14th
    Latin American Test Workshop, Cordoba, Argentina}, title={Adaptive Test and Diagnosis
    of Intermittent Faults}, author={Cook, Alejandro and Rodriguez Gomez, Laura and
    Hellebrand, Sybille and Indlekofer, Thomas and Wunderlich, Hans-Joachim}, year={2013}
    }'
  chicago: Cook, Alejandro, Laura Rodriguez Gomez, Sybille Hellebrand, Thomas Indlekofer,
    and Hans-Joachim Wunderlich. <i>Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults</i>.
    14th Latin American Test Workshop, Cordoba, Argentina, 2013.
  ieee: A. Cook, L. Rodriguez Gomez, S. Hellebrand, T. Indlekofer, and H.-J. Wunderlich,
    <i>Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults</i>. 14th Latin American
    Test Workshop, Cordoba, Argentina, 2013.
  mla: Cook, Alejandro, et al. <i>Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults</i>.
    2013.
  short: A. Cook, L. Rodriguez Gomez, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich,
    Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults, 14th Latin American Test Workshop,
    Cordoba, Argentina, 2013.
date_created: 2019-08-28T12:04:38Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:28Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 14th Latin American Test Workshop, Cordoba, Argentina
status: public
title: Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults
type: misc
user_id: '659'
year: '2013'
...
---
_id: '13074'
author:
- first_name: Alejandro
  full_name: Cook, Alejandro
  last_name: Cook
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
- first_name: Hans-Joachim
  full_name: Wunderlich, Hans-Joachim
  last_name: Wunderlich
citation:
  ama: Cook A, Hellebrand S, Wunderlich H-J. <i>Eingebaute Selbstdiagnose Mit Zufälligen
    Und Deterministischen Mustern</i>. 24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany; 2012.
  apa: Cook, A., Hellebrand, S., &#38; Wunderlich, H.-J. (2012). <i>Eingebaute Selbstdiagnose
    mit zufälligen und deterministischen Mustern</i>. 24. Workshop “Testmethoden und
    Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany.
  bibtex: '@book{Cook_Hellebrand_Wunderlich_2012, place={24. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany},
    title={Eingebaute Selbstdiagnose mit zufälligen und deterministischen Mustern},
    author={Cook, Alejandro and Hellebrand, Sybille and Wunderlich, Hans-Joachim},
    year={2012} }'
  chicago: Cook, Alejandro, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich. <i>Eingebaute
    Selbstdiagnose Mit Zufälligen Und Deterministischen Mustern</i>. 24. Workshop
    “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus,
    Germany, 2012.
  ieee: A. Cook, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, <i>Eingebaute Selbstdiagnose
    mit zufälligen und deterministischen Mustern</i>. 24. Workshop “Testmethoden und
    Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany, 2012.
  mla: Cook, Alejandro, et al. <i>Eingebaute Selbstdiagnose Mit Zufälligen Und Deterministischen
    Mustern</i>. 2012.
  short: A. Cook, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Eingebaute Selbstdiagnose Mit Zufälligen
    Und Deterministischen Mustern, 24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany, 2012.
date_created: 2019-08-28T12:02:54Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:28Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 24. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'12), Cottbus, Germany
status: public
title: Eingebaute Selbstdiagnose mit zufälligen und deterministischen Mustern
type: misc
user_id: '659'
year: '2012'
...
---
_id: '10670'
author:
- first_name: Viktor
  full_name: Fröse, Viktor
  last_name: Fröse
- first_name: Rüdiger
  full_name: Ibers, Rüdiger
  id: '659'
  last_name: Ibers
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: Fröse V, Ibers R, Hellebrand S. <i>Testdatenkompression Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur</i>.
    22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10),
    Paderborn, Germany; 2010.
  apa: Fröse, V., Ibers, R., &#38; Hellebrand, S. (2010). <i>Testdatenkompression
    mit Hilfe der Netzwerkinfrastruktur</i>. 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany.
  bibtex: '@book{Fröse_Ibers_Hellebrand_2010, place={22. Workshop “Testmethoden und
    Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany}, title={Testdatenkompression
    mit Hilfe der Netzwerkinfrastruktur}, author={Fröse, Viktor and Ibers, Rüdiger
    and Hellebrand, Sybille}, year={2010} }'
  chicago: Fröse, Viktor, Rüdiger Ibers, and Sybille Hellebrand. <i>Testdatenkompression
    Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur</i>. 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany, 2010.
  ieee: V. Fröse, R. Ibers, and S. Hellebrand, <i>Testdatenkompression mit Hilfe der
    Netzwerkinfrastruktur</i>. 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von
    Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany, 2010.
  mla: Fröse, Viktor, et al. <i>Testdatenkompression Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur</i>.
    2010.
  short: V. Fröse, R. Ibers, S. Hellebrand, Testdatenkompression Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur,
    22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10),
    Paderborn, Germany, 2010.
date_created: 2019-07-10T11:17:36Z
date_updated: 2022-01-06T06:50:49Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 22. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'10), Paderborn, Germany
status: public
title: Testdatenkompression mit Hilfe der Netzwerkinfrastruktur
type: misc
user_id: '659'
year: '2010'
...
---
_id: '13033'
author:
- first_name: Torsten
  full_name: Coym, Torsten
  last_name: Coym
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
- first_name: Stefan
  full_name: Ludwig, Stefan
  last_name: Ludwig
- first_name: Bernd
  full_name: Straube, Bernd
  last_name: Straube
- first_name: Hans-Joachim
  full_name: Wunderlich, Hans-Joachim
  last_name: Wunderlich
- first_name: Christian
  full_name: G. Zoellin, Christian
  last_name: G. Zoellin
citation:
  ama: Coym T, Hellebrand S, Ludwig S, Straube B, Wunderlich H-J, G. Zoellin C. <i>Ein
    Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf
    Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit</i>. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich;
    2008.
  apa: Coym, T., Hellebrand, S., Ludwig, S., Straube, B., Wunderlich, H.-J., &#38;
    G. Zoellin, C. (2008). <i>Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer
    und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit</i>. 20.
    ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”
    (Poster), Wien, Österreich.
  bibtex: '@book{Coym_Hellebrand_Ludwig_Straube_Wunderlich_G. Zoellin_2008, place={20.
    ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”
    (Poster), Wien, Österreich}, title={Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer
    und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit}, author={Coym,
    Torsten and Hellebrand, Sybille and Ludwig, Stefan and Straube, Bernd and Wunderlich,
    Hans-Joachim and G. Zoellin, Christian}, year={2008} }'
  chicago: Coym, Torsten, Sybille Hellebrand, Stefan Ludwig, Bernd Straube, Hans-Joachim
    Wunderlich, and Christian G. Zoellin. <i>Ein Verfeinertes Elektrisches Modell
    Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit</i>.
    20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und
    Systemen” (Poster), Wien, Österreich, 2008.
  ieee: T. Coym, S. Hellebrand, S. Ludwig, B. Straube, H.-J. Wunderlich, and C. G.
    Zoellin, <i>Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen
    Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit</i>. 20. ITG/GI/GMM
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster),
    Wien, Österreich, 2008.
  mla: Coym, Torsten, et al. <i>Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer
    Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit</i>. 2008.
  short: T. Coym, S. Hellebrand, S. Ludwig, B. Straube, H.-J. Wunderlich, C. G. Zoellin,
    Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung
    Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich,
    2008.
date_created: 2019-08-28T10:37:06Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:27Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 20. ITG/GI/GMM Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und
  Systemen" (Poster), Wien, Österreich
status: public
title: Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen Auswirkung
  auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit
type: misc
user_id: '659'
year: '2008'
...
---
_id: '13035'
author:
- first_name: Uranmandakh
  full_name: Amgalan, Uranmandakh
  last_name: Amgalan
- first_name: Christian
  full_name: Hachmann, Christian
  last_name: Hachmann
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
- first_name: Hans-Joachim
  full_name: Wunderlich, Hans-Joachim
  last_name: Wunderlich
citation:
  ama: Amgalan U, Hachmann C, Hellebrand S, Wunderlich H-J. <i>Testen Mit Rücksetzpunkten
    - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen</i>. 20. ITG/GI/GMM
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien,
    Österreich; 2008.
  apa: Amgalan, U., Hachmann, C., Hellebrand, S., &#38; Wunderlich, H.-J. (2008).
    <i>Testen mit Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute bei robusten
    Schaltungen</i>. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von
    Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich.
  bibtex: '@book{Amgalan_Hachmann_Hellebrand_Wunderlich_2008, place={20. ITG/GI/GMM
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien,
    Österreich}, title={Testen mit Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der
    Ausbeute bei robusten Schaltungen}, author={Amgalan, Uranmandakh and Hachmann,
    Christian and Hellebrand, Sybille and Wunderlich, Hans-Joachim}, year={2008} }'
  chicago: Amgalan, Uranmandakh, Christian Hachmann, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim
    Wunderlich. <i>Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute
    Bei Robusten Schaltungen</i>. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich, 2008.
  ieee: U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, <i>Testen mit
    Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute bei robusten Schaltungen</i>.
    20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und
    Systemen”, Wien, Österreich, 2008.
  mla: Amgalan, Uranmandakh, et al. <i>Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur
    Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen</i>. 2008.
  short: U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Testen Mit Rücksetzpunkten
    - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen, 20. ITG/GI/GMM
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien,
    Österreich, 2008.
date_created: 2019-08-28T10:37:09Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:27Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 20. ITG/GI/GMM Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und
  Systemen", Wien, Österreich
status: public
title: Testen mit Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute bei robusten
  Schaltungen
type: misc
user_id: '659'
year: '2008'
...
---
_id: '13038'
author:
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: Hellebrand S. <i>Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for
    On- and Offline Testing</i>. 5th IEEE East-West Design \&#38; Test Symposium,
    Yerevan, Armenia (Invited Talk); 2007.
  apa: Hellebrand, S. (2007). <i>Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies
    for On- and Offline Testing</i>. 5th IEEE East-West Design \&#38; Test Symposium,
    Yerevan, Armenia (Invited Talk).
  bibtex: '@book{Hellebrand_2007, place={5th IEEE East-West Design \&#38; Test Symposium,
    Yerevan, Armenia (Invited Talk)}, title={Reliable Nanoscale Systems - Challenges
    and Strategies for On- and Offline Testing}, author={Hellebrand, Sybille}, year={2007}
    }'
  chicago: Hellebrand, Sybille. <i>Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies
    for On- and Offline Testing</i>. 5th IEEE East-West Design \&#38; Test Symposium,
    Yerevan, Armenia (Invited Talk), 2007.
  ieee: S. Hellebrand, <i>Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for
    On- and Offline Testing</i>. 5th IEEE East-West Design \&#38; Test Symposium,
    Yerevan, Armenia (Invited Talk), 2007.
  mla: Hellebrand, Sybille. <i>Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies
    for On- and Offline Testing</i>. 2007.
  short: S. Hellebrand, Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for
    On- and Offline Testing, 5th IEEE East-West Design \&#38; Test Symposium, Yerevan,
    Armenia (Invited Talk), 2007.
date_created: 2019-08-28T10:40:47Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:27Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 5th IEEE East-West Design \& Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk)
status: public
title: Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline
  Testing
type: misc
user_id: '659'
year: '2007'
...
---
_id: '13039'
author:
- first_name: Muhammad
  full_name: Ali, Muhammad
  last_name: Ali
- first_name: Michael
  full_name: Welzl, Michael
  last_name: Welzl
- first_name: Sven
  full_name: Hessler, Sven
  last_name: Hessler
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: Ali M, Welzl M, Hessler S, Hellebrand S. <i>An End-to-End Reliability Protocol
    to Address Transient Faults in Network on Chips</i>. DATE 2007 Friday Workshop
    on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster); 2007.
  apa: Ali, M., Welzl, M., Hessler, S., &#38; Hellebrand, S. (2007). <i>An End-to-End
    Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips</i>. DATE
    2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France,
    (Poster).
  bibtex: '@book{Ali_Welzl_Hessler_Hellebrand_2007, place={DATE 2007 Friday Workshop
    on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster)}, title={An
    End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips},
    author={Ali, Muhammad and Welzl, Michael and Hessler, Sven and Hellebrand, Sybille},
    year={2007} }'
  chicago: Ali, Muhammad, Michael Welzl, Sven Hessler, and Sybille Hellebrand. <i>An
    End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips</i>.
    DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France,
    (Poster), 2007.
  ieee: M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, and S. Hellebrand, <i>An End-to-End Reliability
    Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips</i>. DATE 2007 Friday
    Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster), 2007.
  mla: Ali, Muhammad, et al. <i>An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient
    Faults in Network on Chips</i>. 2007.
  short: M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, S. Hellebrand, An End-to-End Reliability Protocol
    to Address Transient Faults in Network on Chips, DATE 2007 Friday Workshop on
    Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster), 2007.
date_created: 2019-08-28T10:41:29Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:27Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice,
  France, (Poster)
status: public
title: An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on
  Chips
type: misc
user_id: '659'
year: '2007'
...
---
_id: '13042'
author:
- first_name: Philipp
  full_name: Oehler, Philipp
  last_name: Oehler
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
- first_name: Hans-Joachim
  full_name: Wunderlich, Hans-Joachim
  last_name: Wunderlich
citation:
  ama: Oehler P, Hellebrand S, Wunderlich H-J. <i>An Integrated Built-in Test and
    Repair Approach for Memories with 2D Redundancy</i>. 17th GI/ITG/GMM Workshop
    “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany;
    2007.
  apa: Oehler, P., Hellebrand, S., &#38; Wunderlich, H.-J. (2007). <i>An Integrated
    Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy</i>. 17th GI/ITG/GMM
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen,
    Germany.
  bibtex: '@book{Oehler_Hellebrand_Wunderlich_2007, place={17th GI/ITG/GMM Workshop
    “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany},
    title={An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy},
    author={Oehler, Philipp and Hellebrand, Sybille and Wunderlich, Hans-Joachim},
    year={2007} }'
  chicago: Oehler, Philipp, Sybille Hellebrand, and Hans-Joachim Wunderlich. <i>An
    Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy</i>.
    17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und
    Systemen”, Erlangen, Germany, 2007.
  ieee: P. Oehler, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, <i>An Integrated Built-in
    Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy</i>. 17th GI/ITG/GMM
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen,
    Germany, 2007.
  mla: Oehler, Philipp, et al. <i>An Integrated Built-in Test and Repair Approach
    for Memories with 2D Redundancy</i>. 2007.
  short: P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, An Integrated Built-in Test and
    Repair Approach for Memories with 2D Redundancy, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany, 2007.
date_created: 2019-08-28T10:43:12Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:27Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 17th GI/ITG/GMM Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen
  und Systemen", Erlangen, Germany
status: public
title: An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy
type: misc
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year: '2007'
...
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author:
- first_name: Philipp
  full_name: Oehler, Philipp
  last_name: Oehler
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  last_name: Hellebrand
citation:
  ama: Oehler P, Hellebrand S. <i>A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online
    Consistency Checking</i>. Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany; 2005.
  apa: Oehler, P., &#38; Hellebrand, S. (2005). <i>A Low Power Design for Embedded
    DRAMs with Online Consistency Checking</i>. Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg,
    Germany.
  bibtex: '@book{Oehler_Hellebrand_2005, place={Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg,
    Germany}, title={A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency
    Checking}, author={Oehler, Philipp and Hellebrand, Sybille}, year={2005} }'
  chicago: Oehler, Philipp, and Sybille Hellebrand. <i>A Low Power Design for Embedded
    DRAMs with Online Consistency Checking</i>. Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg,
    Germany, 2005.
  ieee: P. Oehler and S. Hellebrand, <i>A Low Power Design for Embedded DRAMs with
    Online Consistency Checking</i>. Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany,
    2005.
  mla: Oehler, Philipp, and Sybille Hellebrand. <i>A Low Power Design for Embedded
    DRAMs with Online Consistency Checking</i>. 2005.
  short: P. Oehler, S. Hellebrand, A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online
    Consistency Checking, Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany, 2005.
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date_updated: 2022-01-06T06:51:27Z
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- WORKSHOP
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- iso: eng
place: Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany
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title: A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking
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author:
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  last_name: Hellebrand
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  ama: 'Ali M, Welzl M, Hellebrand S. <i>Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable
    NoCs</i>. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen
    und Systemen”, Innsbruck, Austria; 2005.'
  apa: 'Ali, M., Welzl, M., &#38; Hellebrand, S. (2005). <i>Dynamic Routing: A Prerequisite
    for Reliable NoCs</i>. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria.'
  bibtex: '@book{Ali_Welzl_Hellebrand_2005, place={17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria}, title={Dynamic
    Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs}, author={Ali, Muhammad and Welzl, Michael
    and Hellebrand, Sybille}, year={2005} }'
  chicago: 'Ali, Muhammad, Michael Welzl, and Sybille Hellebrand. <i>Dynamic Routing:
    A Prerequisite for Reliable NoCs</i>. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und
    Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.'
  ieee: 'M. Ali, M. Welzl, and S. Hellebrand, <i>Dynamic Routing: A Prerequisite for
    Reliable NoCs</i>. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.'
  mla: 'Ali, Muhammad, et al. <i>Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs</i>.
    2005.'
  short: 'M. Ali, M. Welzl, S. Hellebrand, Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable
    NoCs, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen
    und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.'
date_created: 2019-08-28T12:22:23Z
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- _id: '48'
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keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 17th GI/ITG/GMM Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen
  und Systemen", Innsbruck, Austria
status: public
title: 'Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs'
type: misc
user_id: '659'
year: '2005'
...
---
_id: '13102'
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- first_name: Philipp
  full_name: Oehler, Philipp
  last_name: Oehler
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
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  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: Oehler P, Hellebrand S. <i>Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities
    in Embedded DRAMs - A Case Study</i>. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und
    Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria; 2005.
  apa: Oehler, P., &#38; Hellebrand, S. (2005). <i>Power Consumption Versus Error
    Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study</i>. 17th GI/ITG/GMM
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck,
    Austria.
  bibtex: '@book{Oehler_Hellebrand_2005, place={17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria}, title={Power
    Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study},
    author={Oehler, Philipp and Hellebrand, Sybille}, year={2005} }'
  chicago: Oehler, Philipp, and Sybille Hellebrand. <i>Power Consumption Versus Error
    Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study</i>. 17th GI/ITG/GMM
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck,
    Austria, 2005.
  ieee: P. Oehler and S. Hellebrand, <i>Power Consumption Versus Error Correcting
    Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study</i>. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
  mla: Oehler, Philipp, and Sybille Hellebrand. <i>Power Consumption Versus Error
    Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study</i>. 2005.
  short: P. Oehler, S. Hellebrand, Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities
    in Embedded DRAMs - A Case Study, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
date_created: 2019-08-28T12:23:10Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:28Z
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- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
place: 17th GI/ITG/GMM Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen
  und Systemen", Innsbruck, Austria
status: public
title: Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs -
  A Case Study
type: misc
user_id: '659'
year: '2005'
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