@article{14027, author = {{Bengs, Viktor and Eulert, Matthias and Holzmann, Hajo}}, issn = {{0047-259X}}, journal = {{Journal of Multivariate Analysis}}, pages = {{291--312}}, title = {{{Asymptotic confidence sets for the jump curve in bivariate regression problems}}}, doi = {{10.1016/j.jmva.2019.02.017}}, year = {{2019}}, } @article{14028, author = {{Bengs, Viktor and Holzmann, Hajo}}, issn = {{1935-7524}}, journal = {{Electronic Journal of Statistics}}, pages = {{1523--1579}}, title = {{{Adaptive confidence sets for kink estimation}}}, doi = {{10.1214/19-ejs1555}}, year = {{2019}}, } @misc{14032, abstract = {{ Beschrieben ist ein verteiltes Warenwirtschaftssystem, bei dem der Kunde, Händler, und der Hersteller vernetzt sind. Dies wird bewerkstelligt durch einen Cloud-Speicher (105), der Cloud-Speicher (105) aufweisend ein Mittel zum Speichern (105a) von Daten, ein Mittel zum Empfangen von ersten Daten von einem ersten Netzwerkteilnehmer (110), wobei die ersten Daten zugehörig sind zu einem physischen Objekt, ein Mittel zum Empfangen von Anfragedaten von einem zweiten Netzwerkteilnehmer (120), ein Mittel zum Empfangen von zweiten Daten von einem dritten Netzwerkteilnehmer (130), wobei die zweiten Daten zugehörig sind zu den ersten Daten und zumindest ein Datum aufweisen, welches angepasst ist, die ersten Daten zu ändern in Abhängigkeit der empfangenen Anfragedaten, ein Mittel zum Ändern der ersten Daten basierend zumindest im Teil auf den zweiten Daten und den Anfragedaten und ein Mittel zum Senden eines geänderten Teils der ersten Daten von dem Cloud-Speicher (105) an den ersten Netzwerkteilnehmer (110).}}, author = {{Göllner, Thomas and Schwarz, Jan-Hendrik and Gottschalk, Sebastian and Sauer, Stefan}}, pages = {{25}}, title = {{{Verteiltes Warenwirtschaftssystem [Distributed Warehouse System]}}}, year = {{2019}}, } @article{14033, author = {{Klümper, A. and Nuding, W. and Sedrakyan, A.}}, issn = {{2469-9950}}, journal = {{Physical Review B}}, pages = {{140201}}, title = {{{Random network models with variable disorder of geometry}}}, doi = {{10.1103/physrevb.100.140201}}, volume = {{100}}, year = {{2019}}, } @inproceedings{14539, author = {{Castenow, Jannik and Kolb, Christina and Scheideler, Christian}}, booktitle = {{Proceedings of the 26th International Colloquium on Structural Information and Communication Complexity (SIROCCO)}}, location = {{L'Aquila, Italy}}, pages = {{345--348}}, title = {{{A Bounding Box Overlay for Competitive Routing in Hybrid Communication Networks}}}, doi = {{10.1007/978-3-030-24922-9\_26}}, year = {{2019}}, } @article{14540, author = {{Schryen, Guido and Kliewer, Natalia and Borndörfer, Ralf and Koch, Thorsten}}, journal = {{OR News}}, pages = {{34--35}}, title = {{{High-Performance Business Computing – Parallel Algorithms and Implementations for Solving Problems in Operations Research and Data Analysis}}}, volume = {{65}}, year = {{2019}}, } @inproceedings{14543, author = {{Szopinski, Daniel and John, Thomas and Kundisch, Dennis}}, location = {{Munich, Germany}}, title = {{{Digital Tools for Teaching Business Model Innovation in Information Systems: A newly developed didactic approach comprising video-based peer feedback}}}, year = {{2019}}, } @misc{14546, author = {{Hansmeier, Tim}}, publisher = {{Universität Paderborn}}, title = {{{Autonomous Operation of High-Performance Compute Nodes through Self-Awareness and Learning Classifiers}}}, year = {{2019}}, } @article{13048, abstract = {{Marginal hardware introduces severe reliability threats throughout the life cycle of a system. Although marginalities may not affect the functionality of a circuit immediately after manufacturing, they can degrade into hard failures and must be screened out during manufacturing test to prevent early life failures. Furthermore, their evolution in the field must be proactively monitored by periodic tests before actual failures occur. In recent years small delay faults have gained increasing attention as possible indicators of marginal hardware. However, small delay faults on short paths may be undetectable even with advanced timing aware ATPG. Faster-than-at-speed test (FAST) can detect such hidden delay faults, but so far FAST has mainly been restricted to manufacturing test.}}, author = {{Kampmann, Matthias and A. Kochte, Michael and Liu, Chang and Schneider, Eric and Hellebrand, Sybille and Wunderlich, Hans-Joachim}}, issn = {{1937-4151}}, journal = {{IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD)}}, number = {{10}}, pages = {{1956 -- 1968}}, publisher = {{IEEE}}, title = {{{Built-in Test for Hidden Delay Faults}}}, volume = {{38}}, year = {{2019}}, } @inproceedings{13106, author = {{Schumacher, Jan}}, booktitle = {{Beiträge zum Mathematikunterricht 2019}}, location = {{Regensburg}}, title = {{{Rekonstruktion diagrammatischen Schließens am Beispiel der Subtraktion negativer Zahlen}}}, year = {{2019}}, }