TY - CONF AU - Hellebrand, Sybille AU - Wunderlich, Hans-Joachim AU - A. Ivaniuk, Alexander AU - V. Klimets, Yuri AU - N. Yarmolik, Vyacheslav ID - 13006 T2 - 17th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'99) TI - Error Detecting Refreshment for Embedded DRAMs ER -