{"type":"conference","date_created":"2019-08-28T10:35:49Z","date_updated":"2022-05-11T16:31:25Z","place":"Ingolstadt, Germany","language":[{"iso":"eng"}],"author":[{"last_name":"Hunger","full_name":"Hunger, Marc","first_name":"Marc"},{"id":"209","first_name":"Sybille","last_name":"Hellebrand","full_name":"Hellebrand, Sybille","orcid":"0000-0002-3717-3939"}],"status":"public","department":[{"_id":"48"}],"user_id":"209","publication":"2. GMM/GI/ITG-Fachtagung \"Zuverlässigkeit und Entwurf\"","year":"2008","citation":{"ama":"Hunger M, Hellebrand S. Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG. In: <i>2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.”</i> ; 2008.","chicago":"Hunger, Marc, and Sybille Hellebrand. “Analyse Selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit Und Selbsttestbarkeit Mit ATPG.” In <i>2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.”</i> Ingolstadt, Germany, 2008.","apa":"Hunger, M., &#38; Hellebrand, S. (2008). Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG. <i>2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.”</i>","short":"M. Hunger, S. Hellebrand, in: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Ingolstadt, Germany, 2008.","bibtex":"@inproceedings{Hunger_Hellebrand_2008, place={Ingolstadt, Germany}, title={Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG}, booktitle={2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit und Entwurf”}, author={Hunger, Marc and Hellebrand, Sybille}, year={2008} }","mla":"Hunger, Marc, and Sybille Hellebrand. “Analyse Selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit Und Selbsttestbarkeit Mit ATPG.” <i>2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,”</i> 2008.","ieee":"M. Hunger and S. Hellebrand, “Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG,” 2008."},"title":"Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG","_id":"13031"}