{"author":[{"first_name":"Bernd","full_name":"Becker, Bernd","last_name":"Becker"},{"first_name":"Ilia","full_name":"Polian, Ilia","last_name":"Polian"},{"orcid":"0000-0002-3717-3939","first_name":"Sybille","full_name":"Hellebrand, Sybille","id":"209","last_name":"Hellebrand"},{"first_name":"Bernd","last_name":"Straube","full_name":"Straube, Bernd"},{"first_name":"Hans-Joachim","last_name":"Wunderlich","full_name":"Wunderlich, Hans-Joachim"}],"year":"2007","place":"Munich, Germany","status":"public","date_created":"2019-08-28T10:42:28Z","user_id":"209","citation":{"bibtex":"@inproceedings{Becker_Polian_Hellebrand_Straube_Wunderlich_2007, place={Munich, Germany}, title={Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme}, booktitle={1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit und Entwurf”}, author={Becker, Bernd and Polian, Ilia and Hellebrand, Sybille and Straube, Bernd and Wunderlich, Hans-Joachim}, year={2007} }","ama":"Becker B, Polian I, Hellebrand S, Straube B, Wunderlich H-J. Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme. In: <i>1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.”</i> ; 2007.","mla":"Becker, Bernd, et al. “Test Und Zuverlässigkeit Nanoelektronischer Systeme.” <i>1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,”</i> 2007.","ieee":"B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, and H.-J. Wunderlich, “Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme,” 2007.","chicago":"Becker, Bernd, Ilia Polian, Sybille Hellebrand, Bernd Straube, and Hans-Joachim Wunderlich. “Test Und Zuverlässigkeit Nanoelektronischer Systeme.” In <i>1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.”</i> Munich, Germany, 2007.","short":"B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, in: 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Munich, Germany, 2007.","apa":"Becker, B., Polian, I., Hellebrand, S., Straube, B., &#38; Wunderlich, H.-J. (2007). Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme. <i>1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.”</i>"},"title":"Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme","_id":"13041","department":[{"_id":"48"}],"language":[{"iso":"eng"}],"type":"conference","date_updated":"2022-05-11T16:37:22Z","publication":"1. GMM/GI/ITG-Fachtagung \"Zuverlässigkeit und Entwurf\""}