Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler Hellebrand, Sybille Indlekofer, Thomas Kampmann, Matthias Kochte, Michael Liu, Chang Wunderlich, Hans-Joachim Workshop 2015 info:eu-repo/semantics/other doc-type:other text http://purl.org/coar/resource_type/c_1843 https://ris.uni-paderborn.de/record/13077 Hellebrand S, Indlekofer T, Kampmann M, Kochte M, Liu C, Wunderlich H-J. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany; 2015. eng info:eu-repo/semantics/closedAccess