{"language":[{"iso":"eng"}],"date_updated":"2022-01-06T06:51:28Z","type":"misc","place":"27. Workshop \"Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen\" (TuZ'15), Bad Urach, Germany","year":"2015","status":"public","author":[{"last_name":"Hellebrand","id":"209","full_name":"Hellebrand, Sybille","first_name":"Sybille","orcid":"0000-0002-3717-3939"},{"last_name":"Indlekofer","full_name":"Indlekofer, Thomas","first_name":"Thomas"},{"first_name":"Matthias","full_name":"Kampmann, Matthias","last_name":"Kampmann","id":"10935"},{"last_name":"Kochte","full_name":"Kochte, Michael","first_name":"Michael"},{"first_name":"Chang","last_name":"Liu","full_name":"Liu, Chang"},{"last_name":"Wunderlich","full_name":"Wunderlich, Hans-Joachim","first_name":"Hans-Joachim"}],"department":[{"_id":"48"}],"_id":"13077","title":"Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler","keyword":["Workshop"],"date_created":"2019-08-28T12:05:44Z","citation":{"ieee":"S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, and H.-J. Wunderlich, <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.","mla":"Hellebrand, Sybille, et al. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 2015.","bibtex":"@book{Hellebrand_Indlekofer_Kampmann_Kochte_Liu_Wunderlich_2015, place={27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany}, title={Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler}, author={Hellebrand, Sybille and Indlekofer, Thomas and Kampmann, Matthias and Kochte, Michael and Liu, Chang and Wunderlich, Hans-Joachim}, year={2015} }","ama":"Hellebrand S, Indlekofer T, Kampmann M, Kochte M, Liu C, Wunderlich H-J. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany; 2015.","chicago":"Hellebrand, Sybille, Thomas Indlekofer, Matthias Kampmann, Michael Kochte, Chang Liu, and Hans-Joachim Wunderlich. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.","apa":"Hellebrand, S., Indlekofer, T., Kampmann, M., Kochte, M., Liu, C., &#38; Wunderlich, H.-J. (2015). <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany.","short":"S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H.-J. Wunderlich, Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler, 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015."},"user_id":"659"}