thesis Sybille Hellebrand author 2090000-0002-3717-3939 Thomas Indlekofer author Matthias Kampmann author 10935 Michael Kochte author Chang Liu author Hans-Joachim Wunderlich author 48 department 2015 eng Workshop S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H.-J. Wunderlich, Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler, 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015. @book{Hellebrand_Indlekofer_Kampmann_Kochte_Liu_Wunderlich_2015, place={27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany}, title={Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler}, author={Hellebrand, Sybille and Indlekofer, Thomas and Kampmann, Matthias and Kochte, Michael and Liu, Chang and Wunderlich, Hans-Joachim}, year={2015} } Hellebrand, Sybille, et al. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 2015. Hellebrand, S., Indlekofer, T., Kampmann, M., Kochte, M., Liu, C., &#38; Wunderlich, H.-J. (2015). <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany. Hellebrand, Sybille, Thomas Indlekofer, Matthias Kampmann, Michael Kochte, Chang Liu, and Hans-Joachim Wunderlich. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015. S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, and H.-J. Wunderlich, <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015. Hellebrand S, Indlekofer T, Kampmann M, Kochte M, Liu C, Wunderlich H-J. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany; 2015. 130772019-08-28T12:05:44Z2022-01-06T06:51:28Z