---
_id: '13077'
author:
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
- first_name: Thomas
  full_name: Indlekofer, Thomas
  last_name: Indlekofer
- first_name: Matthias
  full_name: Kampmann, Matthias
  id: '10935'
  last_name: Kampmann
- first_name: Michael
  full_name: Kochte, Michael
  last_name: Kochte
- first_name: Chang
  full_name: Liu, Chang
  last_name: Liu
- first_name: Hans-Joachim
  full_name: Wunderlich, Hans-Joachim
  last_name: Wunderlich
citation:
  ama: Hellebrand S, Indlekofer T, Kampmann M, Kochte M, Liu C, Wunderlich H-J. <i>Effiziente
    Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop
    “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad
    Urach, Germany; 2015.
  apa: Hellebrand, S., Indlekofer, T., Kampmann, M., Kochte, M., Liu, C., &#38; Wunderlich,
    H.-J. (2015). <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler</i>.
    27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15),
    Bad Urach, Germany.
  bibtex: '@book{Hellebrand_Indlekofer_Kampmann_Kochte_Liu_Wunderlich_2015, place={27.
    Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15),
    Bad Urach, Germany}, title={Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test
    kleiner Verzögerungsfehler}, author={Hellebrand, Sybille and Indlekofer, Thomas
    and Kampmann, Matthias and Kochte, Michael and Liu, Chang and Wunderlich, Hans-Joachim},
    year={2015} }'
  chicago: Hellebrand, Sybille, Thomas Indlekofer, Matthias Kampmann, Michael Kochte,
    Chang Liu, and Hans-Joachim Wunderlich. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen
    Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.
  ieee: S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, and H.-J. Wunderlich,
    <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler</i>.
    27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15),
    Bad Urach, Germany, 2015.
  mla: Hellebrand, Sybille, et al. <i>Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den
    Test Kleiner Verzögerungsfehler</i>. 2015.
  short: S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H.-J. Wunderlich,
    Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler,
    27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15),
    Bad Urach, Germany, 2015.
date_created: 2019-08-28T12:05:44Z
date_updated: 2022-01-06T06:51:28Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- Workshop
language:
- iso: eng
place: 27. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'15), Bad Urach, Germany
status: public
title: Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler
type: misc
user_id: '659'
year: '2015'
...