---
_id: '35204'
author:
- first_name: Abdulkarim
  full_name: Ghazal, Abdulkarim
  last_name: Ghazal
- first_name: Somayeh
  full_name: Sadeghi-Kohan, Somayeh
  id: '78614'
  last_name: Sadeghi-Kohan
- first_name: Jan Dennis
  full_name: Reimer, Jan Dennis
  id: '36703'
  last_name: Reimer
- first_name: Sybille
  full_name: Hellebrand, Sybille
  id: '209'
  last_name: Hellebrand
  orcid: 0000-0002-3717-3939
citation:
  ama: Ghazal A, Sadeghi-Kohan S, Reimer JD, Hellebrand S. <i>On Cryptography Effects
    on Interconnect Reliability</i>. 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023; 2023.
  apa: Ghazal, A., Sadeghi-Kohan, S., Reimer, J. D., &#38; Hellebrand, S. (2023).
    <i>On Cryptography Effects on Interconnect Reliability</i>. 35. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023.
  bibtex: '@book{Ghazal_Sadeghi-Kohan_Reimer_Hellebrand_2023, place={Erfurt, Germany},
    title={On Cryptography Effects on Interconnect Reliability}, publisher={35. Workshop
    “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb.
    2023}, author={Ghazal, Abdulkarim and Sadeghi-Kohan, Somayeh and Reimer, Jan Dennis
    and Hellebrand, Sybille}, year={2023} }'
  chicago: 'Ghazal, Abdulkarim, Somayeh Sadeghi-Kohan, Jan Dennis Reimer, and Sybille
    Hellebrand. <i>On Cryptography Effects on Interconnect Reliability</i>. Erfurt,
    Germany: 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”
    (TuZ’23), Feb. 2023, 2023.'
  ieee: 'A. Ghazal, S. Sadeghi-Kohan, J. D. Reimer, and S. Hellebrand, <i>On Cryptography
    Effects on Interconnect Reliability</i>. Erfurt, Germany: 35. Workshop “Testmethoden
    und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, 2023.'
  mla: Ghazal, Abdulkarim, et al. <i>On Cryptography Effects on Interconnect Reliability</i>.
    35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23),
    Feb. 2023, 2023.
  short: A. Ghazal, S. Sadeghi-Kohan, J.D. Reimer, S. Hellebrand, On Cryptography
    Effects on Interconnect Reliability, 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit
    von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, Erfurt, Germany, 2023.
date_created: 2023-01-04T10:20:41Z
date_updated: 2023-04-06T21:06:37Z
department:
- _id: '48'
keyword:
- WORKSHOP
language:
- iso: eng
page: '2'
place: Erfurt, Germany
publisher: 35. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen"
  (TuZ'23), Feb. 2023
status: public
title: On Cryptography Effects on Interconnect Reliability
type: misc
user_id: '36703'
year: '2023'
...
