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15902 Publications


2000 | Journal Article | LibreCat-ID: 20998
Hahn O, Meschut G, Eis M, Maciej M. Beeinflussung der mechanischen Eigenschaften geklebter Kunststoffverbindungen durch Diffusion von Klebstoffbestandteilen in die polymeren Fügeteile. Schweißen und Schneiden. 2000;52(6):340-348.
LibreCat
 

2000 | Journal Article | LibreCat-ID: 21782
Domik G. Do we need formal education in visualization? IEEE Computer Graphics and Applications. 2000;20(4):16-19. doi:10.1109/38.851744
LibreCat | DOI
 

2000 | Book | LibreCat-ID: 24483
Schäfermeier U, Bischoff C. KMUnet - Ein Konzept zur ablauforganisatorischen Gestaltung der Lieferanteneinbindung. Vol 65. Heinz Nixdorf Institut, Universität Paderborn; 2000.
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2000 | Dissertation | LibreCat-ID: 24488
Grobbel R. Eine Referenzarchitektur für Koopertationsbörsen. Vol 70. Heinz Nixdorf Institut, Universität Paderborn; 2000.
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2000 | Dissertation | LibreCat-ID: 24490
Löffler A. Energetische Modellierung neuronaler Signalverarbeitung. Vol 72. Heinz Nixdorf Institut, Universität Paderborn; 2000.
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2000 | Dissertation | LibreCat-ID: 24495
Körner T. Analog VLSI Implementation of a Local Cluster Neural Network. Vol 77. Heinz Nixdorf Institut, Universität Paderborn; 2000.
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2000 | Dissertation | LibreCat-ID: 24503
Bartscher T. Methoden des Integrierten Workflowmanagements (IWFM). Vol 86. Heinz Nixdorf Institut, Universität Paderborn; 2000.
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2000 | Conference Paper | LibreCat-ID: 11758
Duin RPW, Loog M, Haeb-Umbach R. Multi-class Linear Feature Extraction by Nonlinear PCA. In: International Conference on Pattern Recognition (ICPR 2000). ; 2000.
LibreCat | Download (ext.)
 

2000 | Misc | LibreCat-ID: 13095
Hellebrand S, Liang H-G, Wunderlich H-J. A Mixed Mode BIST Scheme Based on Reseeding of Folding Counters. IEEE European Test Workshop, Cascais, Portugal; 2000.
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2000 | Journal Article | LibreCat-ID: 13759
Schmidt WG, Mirbt S, Bechstedt F. Surface phase diagram of (2×4) and (4×2) reconstructions of GaAs(001). Physical Review B. 2000;62(12):8087-8091. doi:10.1103/physrevb.62.8087
LibreCat | DOI
 

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