Systemmodelle als Schlüssel zu durchgängigen XIL-Testszenarien

J. Schmitz, M. Fockel, in: Tag Des Systems Engineering 2017, Gesellschaft f{\"u}r Systems Engineering e.V., 2017.

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Schmitz, Joachim; Fockel, MarkusLibreCat
Abstract
Intelligente technische Systeme, wie autonom fahrende Fahrzeuge, werden in einem hohen Maß durch Software realisiert. Der Weg zum autonomen Fahren führt unweigerlich über eine steigende Vernetzung von Steuergeräten im Fahrzeug und über Fahrzeuggrenzen hinweg. Damit einher geht eine stetig steigende Komplexität der Software. Deshalb liegt es auf der Hand, dass die systematische Qualitätssicherung für derartige technische Systeme sehr früh, also bereits entwicklungsbegleitend, erfolgen muss. Dazu lässt sich das Software-in-the-Loop-Verfahren einsetzen, das auf etablierte Techniken des Hardware-in-the-Loop-Verfahrens zurückgreift. Eine besondere Herausforderung besteht darin, Simulationsmodelle und Testbibliotheken sowie die zugehörigen Visualisierungs- und Testwerkzeuge in beiden Welten synergetisch zu nutzen. Das Ziel ist eine einheitliche X-in-the-Loop (XIL) Basis für beide Verfahren. Der Schlüssel zu einer einheitlichen Basis für durchgängige XIL-Testszenarien ist der Einsatz eines übergeordneten Systemmodells. Es definiert die Systemgrenze und umliegenden Systeme in der Umwelt. Zudem dient das Systemmodell als Ordnungsschema für die Ablage der Artefakte wie Verhaltensmodelle, Testskripte, Parametersätze oder Workflows. Ein zentrales Datenmanagementwerkzeug, welches sämtliche Strukturinformationen, Verhaltensmodelle und Variantenbezüge verknüpft, ermöglicht ein teilautomatisches Umschalten zwischen den Testszenarien. In diesem Beitrag stellen wir eine solche Lösung vor.
Publishing Year
Proceedings Title
Tag des Systems Engineering 2017
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Schmitz J, Fockel M. Systemmodelle als Schlüssel zu durchgängigen XIL-Testszenarien. In: Tag Des Systems Engineering 2017. Gesellschaft f{\"u}r Systems Engineering e.V.; 2017.
Schmitz, J., & Fockel, M. (2017). Systemmodelle als Schlüssel zu durchgängigen XIL-Testszenarien. In Tag des Systems Engineering 2017. Gesellschaft f{\"u}r Systems Engineering e.V.
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Schmitz, Joachim, and Markus Fockel. “Systemmodelle Als Schlüssel Zu Durchgängigen XIL-Testszenarien.” In Tag Des Systems Engineering 2017. Gesellschaft f{\"u}r Systems Engineering e.V., 2017.
J. Schmitz and M. Fockel, “Systemmodelle als Schlüssel zu durchgängigen XIL-Testszenarien,” in Tag des Systems Engineering 2017, 2017.
Schmitz, Joachim, and Markus Fockel. “Systemmodelle Als Schlüssel Zu Durchgängigen XIL-Testszenarien.” Tag Des Systems Engineering 2017, Gesellschaft f{\"u}r Systems Engineering e.V., 2017.

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