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2025 | Conference Paper | LibreCat-ID: 62725
M. Neuser, G. Cichon, K.-P. Hoyer, and M. Schaper, “Bildauswertendes Verfahren zur Evaluierung der Mikrostruktur von AlSi-Systemen,” in Bildauswertendes Verfahren zur Evaluierung der Mikrostruktur von AlSi-Systemen, Dresden, 2025, vol. 43, pp. 454–459.
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