DFG-Projekt RealTest - Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, It - Information Technology 48 (2006) 305–311.
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Author
Becker, Bernd;
Polian, Ilia;
Hellebrand, SybilleLibreCat 
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Straube, Bernd;
Wunderlich, Hans-Joachim
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Straube, Bernd;
Wunderlich, Hans-JoachimDepartment
Publishing Year
Journal Title
it - Information Technology
Volume
48
Issue
5
Page
305-311
LibreCat-ID
Cite this
Becker B, Polian I, Hellebrand S, Straube B, Wunderlich H-J. DFG-Projekt RealTest - Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme. it - Information Technology. 2006;48(5):305-311.
Becker, B., Polian, I., Hellebrand, S., Straube, B., & Wunderlich, H.-J. (2006). DFG-Projekt RealTest - Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme. It - Information Technology, 48(5), 305–311.
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Becker, Bernd, Ilia Polian, Sybille Hellebrand, Bernd Straube, and Hans-Joachim Wunderlich. “DFG-Projekt RealTest - Test Und Zuverlässigkeit Nanoelektronischer Systeme.” It - Information Technology 48, no. 5 (2006): 305–11.
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, and H.-J. Wunderlich, “DFG-Projekt RealTest - Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme,” it - Information Technology, vol. 48, no. 5, pp. 305–311, 2006.
Becker, Bernd, et al. “DFG-Projekt RealTest - Test Und Zuverlässigkeit Nanoelektronischer Systeme.” It - Information Technology, vol. 48, no. 5, 2006, pp. 305–11.
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