Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse

P. Oehler, A. Bosio, G. Di Natale, S. Hellebrand, in: {2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}, Ingolstadt, Germany, 2008.

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{2. GMM/GI/ITG-Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf"}
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Oehler P, Bosio A, Di Natale G, Hellebrand S. Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse. In: {2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}. Ingolstadt, Germany; 2008.
Oehler, P., Bosio, A., Di Natale, G., & Hellebrand, S. (2008). Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse. In {2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit und Entwurf”}. Ingolstadt, Germany.
@inproceedings{Oehler_Bosio_Di Natale_Hellebrand_2008, place={Ingolstadt, Germany}, title={Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse}, booktitle={{2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit und Entwurf”}}, author={Oehler, Philipp and Bosio, Alberto and Di Natale, Giorgio and Hellebrand, Sybille}, year={2008} }
Oehler, Philipp, Alberto Bosio, Giorgio Di Natale, and Sybille Hellebrand. “Modularer Selbsttest Und Optimierte Reparaturanalyse.” In {2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}. Ingolstadt, Germany, 2008.
P. Oehler, A. Bosio, G. Di Natale, and S. Hellebrand, “Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse,” in {2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit und Entwurf”}, 2008.
Oehler, Philipp, et al. “Modularer Selbsttest Und Optimierte Reparaturanalyse.” {2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}, 2008.

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