Ein einfaches Maß für den Informationsgehalt von Meßsystemen

J. Beyerer, A. Trächtler, Tm - Technisches Messen 64 (1997) 401-407,.

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tm - Technisches Messen
Volume
64
Page
401-407,
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Beyerer J, Trächtler A. Ein einfaches Maß für den Informationsgehalt von Meßsystemen. tm - Technisches Messen. 1997;64:401-407,.
Beyerer, J., & Trächtler, A. (1997). Ein einfaches Maß für den Informationsgehalt von Meßsystemen. Tm - Technisches Messen, 64, 401-407,.
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Beyerer, J., and Ansgar Trächtler. “Ein Einfaches Maß Für Den Informationsgehalt von Meßsystemen.” Tm - Technisches Messen 64 (1997): 401-407,.
J. Beyerer and A. Trächtler, “Ein einfaches Maß für den Informationsgehalt von Meßsystemen,” tm - Technisches Messen, vol. 64, pp. 401-407, 1997.
Beyerer, J., and Ansgar Trächtler. “Ein Einfaches Maß Für Den Informationsgehalt von Meßsystemen.” Tm - Technisches Messen, vol. 64, 1997, pp. 401-407,.

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