Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, in: 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Munich, Germany, 2007.
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Becker, Bernd;
Polian, Ilia;
Hellebrand, SybilleLibreCat 
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Straube, Bernd;
Wunderlich, Hans-Joachim
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Straube, Bernd;
Wunderlich, Hans-JoachimDepartment
Publishing Year
Proceedings Title
1. GMM/GI/ITG-Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf"
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Becker B, Polian I, Hellebrand S, Straube B, Wunderlich H-J. Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme. In: 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.” ; 2007.
Becker, B., Polian, I., Hellebrand, S., Straube, B., & Wunderlich, H.-J. (2007). Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme. 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.”
@inproceedings{Becker_Polian_Hellebrand_Straube_Wunderlich_2007, place={Munich, Germany}, title={Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme}, booktitle={1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit und Entwurf”}, author={Becker, Bernd and Polian, Ilia and Hellebrand, Sybille and Straube, Bernd and Wunderlich, Hans-Joachim}, year={2007} }
Becker, Bernd, Ilia Polian, Sybille Hellebrand, Bernd Straube, and Hans-Joachim Wunderlich. “Test Und Zuverlässigkeit Nanoelektronischer Systeme.” In 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.” Munich, Germany, 2007.
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, and H.-J. Wunderlich, “Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme,” 2007.
Becker, Bernd, et al. “Test Und Zuverlässigkeit Nanoelektronischer Systeme.” 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” 2007.
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