Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, in: {1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}, Munich, Germany, 2007.
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{1. GMM/GI/ITG-Fachtagung "Zuverlässigkeit und Entwurf"}
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Becker B, Polian I, Hellebrand S, Straube B, Wunderlich H-J. Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme. In: {1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}. Munich, Germany; 2007.
Becker, B., Polian, I., Hellebrand, S., Straube, B., & Wunderlich, H.-J. (2007). Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme. In {1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit und Entwurf”}. Munich, Germany.
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Becker, Bernd, Ilia Polian, Sybille Hellebrand, Bernd Straube, and Hans-Joachim Wunderlich. “Test Und Zuverlässigkeit Nanoelektronischer Systeme.” In {1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}. Munich, Germany, 2007.
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, and H.-J. Wunderlich, “Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme,” in {1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit und Entwurf”}, 2007.
Becker, Bernd, et al. “Test Und Zuverlässigkeit Nanoelektronischer Systeme.” {1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}, 2007.
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