Erweiterung des Raman-Nath-Modells zur Analyse von Schlierenabbildungen
S. Olfert, B. Henning, Technisches Messen 83 (2016) 219–224.
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Author
Olfert, Sergei;
Henning, BerndLibreCat
Department
Publishing Year
Journal Title
Technisches Messen
Volume
83
Issue
4
Page
219-224
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Cite this
Olfert S, Henning B. Erweiterung des Raman-Nath-Modells zur Analyse von Schlierenabbildungen. Technisches Messen. 2016;83(4):219-224. doi:10.1515/teme-2015-0116
Olfert, S., & Henning, B. (2016). Erweiterung des Raman-Nath-Modells zur Analyse von Schlierenabbildungen. Technisches Messen, 83(4), 219–224. https://doi.org/10.1515/teme-2015-0116
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Olfert, Sergei, and Bernd Henning. “Erweiterung Des Raman-Nath-Modells Zur Analyse von Schlierenabbildungen.” Technisches Messen 83, no. 4 (2016): 219–24. https://doi.org/10.1515/teme-2015-0116.
S. Olfert and B. Henning, “Erweiterung des Raman-Nath-Modells zur Analyse von Schlierenabbildungen,” Technisches Messen, vol. 83, no. 4, pp. 219–224, 2016, doi: 10.1515/teme-2015-0116.
Olfert, Sergei, and Bernd Henning. “Erweiterung Des Raman-Nath-Modells Zur Analyse von Schlierenabbildungen.” Technisches Messen, vol. 83, no. 4, 2016, pp. 219–24, doi:10.1515/teme-2015-0116.
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