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40 Publications
2023 | Misc | LibreCat-ID: 35204
Ghazal, Abdulkarim, et al. On Cryptography Effects on Interconnect Reliability. 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, 2023.
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2022 | Misc | LibreCat-ID: 29890
Sadeghi-Kohan, Somayeh, et al. EM-Aware Interconnect BIST. European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18, 2022, 2022.
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2022 | Conference Paper | LibreCat-ID: 33914
Gräßler, Iris, et al. “Supporting Business Model Generation with Augmented Reality.” LUT Scientific and Expertise Publications, 2022.
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2020 | Misc | LibreCat-ID: 15419
Sadeghi-Kohan, Somayeh, and Sybille Hellebrand. Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects. 32. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020, 2020.
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2019 | Misc | LibreCat-ID: 8112
Maaz, Mohammad Urf, et al. A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates. 31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19), 2019.
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2018 | Misc | LibreCat-ID: 4576
Sprenger, Alexander, and Sybille Hellebrand. Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest. 30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18), 2018.
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2018 | Misc | LibreCat-ID: 13072
Kampmann, Matthias, and Sybille Hellebrand. Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion for Faster-than-at-Speed Test. 2018.
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2017 | Misc | LibreCat-ID: 13078
Kampmann, Matthias, and Sybille Hellebrand. X-Tolerante Prüfzellengruppierung Für Den Test Mit Erhöhter Betriebsfrequenz. 2017.
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2015 | Misc | LibreCat-ID: 13077
Hellebrand, Sybille, et al. Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler. 2015.
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2013 | Misc | LibreCat-ID: 13075
Cook, Alejandro, et al. Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults. 2013.
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2012 | Misc | LibreCat-ID: 13074
Cook, Alejandro, et al. Eingebaute Selbstdiagnose Mit Zufälligen Und Deterministischen Mustern. 2012.
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2010 | Misc | LibreCat-ID: 10670
Fröse, Viktor, et al. Testdatenkompression Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur. 2010.
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2008 | Misc | LibreCat-ID: 13033
Coym, Torsten, et al. Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit. 2008.
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2008 | Misc | LibreCat-ID: 13035
Amgalan, Uranmandakh, et al. Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen. 2008.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13038
Hellebrand, Sybille. Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing. 2007.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13039
Ali, Muhammad, et al. An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips. 2007.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13042
Oehler, Philipp, et al. An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy. 2007.
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2005 | Misc | LibreCat-ID: 13046
Oehler, Philipp, and Sybille Hellebrand. A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking. 2005.
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2005 | Misc | LibreCat-ID: 13101
Ali, Muhammad, et al. Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs. 2005.
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2005 | Misc | LibreCat-ID: 13102
Oehler, Philipp, and Sybille Hellebrand. Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study. 2005.
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