On Cryptography Effects on Interconnect Reliability

A. Ghazal, S. Sadeghi-Kohan, J.D. Reimer, S. Hellebrand, On Cryptography Effects on Interconnect Reliability, To appear in: 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, Erfurt, Germany, 2023.

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Ghazal A, Sadeghi-Kohan S, Reimer JD, Hellebrand S. On Cryptography Effects on Interconnect Reliability. To appear in: 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023; 2023.
Ghazal, A., Sadeghi-Kohan, S., Reimer, J. D., & Hellebrand, S. (2023). On Cryptography Effects on Interconnect Reliability. To appear in: 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023.
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Ghazal, Abdulkarim, Somayeh Sadeghi-Kohan, Jan Dennis Reimer, and Sybille Hellebrand. On Cryptography Effects on Interconnect Reliability. Erfurt, Germany: To appear in: 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, 2023.
A. Ghazal, S. Sadeghi-Kohan, J. D. Reimer, and S. Hellebrand, On Cryptography Effects on Interconnect Reliability. Erfurt, Germany: To appear in: 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, 2023.
Ghazal, Abdulkarim, et al. On Cryptography Effects on Interconnect Reliability. To appear in: 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, 2023.

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