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7304 Publications
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 30521
Cao Z, Hu M, Fröhleke N, Böcker J. Modeling and Control Design for a Very Low-Frequency High-Voltage Test System. In: IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS 25(2). ; 2010. doi:10.1109/TPEL.2009.2033600
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2010 | Journal Article | LibreCat-ID: 30536
Grotstollen H. Optimal Design of Motor and Gear for Drives With High Acceleration by Consideration of Torque–Speed and Torque–Acceleration Product. IEEE Transactions on Industry Applications. 2010;47(1):144-152. doi:10.1109/tia.2010.2091479
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2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 22050
Bagsik A, Schöppner V, Klemp E. FDM Part Quality Manufactured with ULTEM 9085. In: Proceedings of International Conference Polymeric Materials. ; 2010. doi:https://docplayer.net/255735-Fdm-part-quality-manufactured-with-ultem-9085.html
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2010 | Dissertation | LibreCat-ID: 30530
Knoke T. Entwurf und Betrieb hybrid-elektrischer Fahrzeugantriebe am Beispiel von Abfallsammelfahrzeugen.; 2010.
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2010 | Dissertation | LibreCat-ID: 30529
Meyer M. Wirkungsgradoptimierte Regelung hoch ausgenutzter Permanent-Synchronmaschinen im Antriebsstrang von Automobilen.; 2010.
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2010 | Dissertation | LibreCat-ID: 30528
Li R. Power Supplies for High-Power Piezoelectric Ultrasonic Motor.; 2010.
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2010 | Book Chapter | LibreCat-ID: 31840
Ballweg S. Portfolioarbeit im fremdsprachlichen Schreibunterricht. In: Altmayer C, Mehlhorn G, Neveling C, Schlüter N, Schramm K, eds. Grenzen überschreiten: sprachlich – fachlich – kulturell. Dokumentation zum 23. Kongress für Fremdsprachendidaktik der Deutschen Gesellschaft für Fremdsprachenforschung (DGFF). Leipzig, 30. September – 3. Oktober 2009. Schneider Hohengehren; 2010:335-342.
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2010 | Book Chapter | LibreCat-ID: 31919
Albers T. Bedingungen des Erst- und Zweitspracherwerbs im Kindergarten. Eine quantitativ-qualitative Analyse der sprachlichen und kommunikativen Kompetenzen von Kindern im Vorschulalter. In: Forschung in der Frühpädagogik . Vol 3. 3rd ed. Schwerpunkt: Sprachentwicklung & Sprachförderung. Verlag Forschung - Entwicklung - Lehre; 2010:135–164.
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2010 | Book Chapter | LibreCat-ID: 35043
Süßmann J. Quellen zitieren. Zur Epistemik und Ethik geschichtswissenschaftlicher Textproduktion. In: Jacob J, Mayer M, eds. Im Namen des anderen. Die Ethik des Zitierens. Vol 3. Ethik – Text – Kultur. Wilhelm Fink; 2010:125–139. doi:https://doi.org/10.30965/9783846748183_009
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2010 | Encyclopedia Article | LibreCat-ID: 34997 | 
Süßmann J. [Art.] Sleidanus, Johann. In: Wissenschaften HK bei der BA der, ed. Neue deutsche Biographie, Bd. 24. Duncker & Humblot; 2010:499 f.
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2010 | Book Chapter | LibreCat-ID: 34948
Süßmann J. ›Deutsche Freiheit‹ in der Frühen Neuzeit. Privileg oder Grundrecht? In: Andermann K, Zeilinger G, eds. Freiheit Und Unfreiheit. Mittelalterliche Und Frühneuzeitliche Facetten Eines Zeitlosen Problems. Vol 7. Kraichtaler Kolloquien. bibliotheca academica; 2010:153–169.
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2010 | Book Chapter | LibreCat-ID: 29388
Schönhärl K. Wie eine Blume die erfroren ist“. Edith Landmann als Jüngerin Stefan Georges. In: Schefold B, Pieger B, eds. Stefan George: Dichtung - Ethos - Staat. Denkbilder für ein geheimes europäisches Deutschland. Verlag für Berlin-Brandenburg; 2010:207-242.
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2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12983
Hopsch F, Becker B, Hellebrand S, et al. Variation-Aware Fault Modeling. In: 19th IEEE Asian Test Symposium (ATS’10). IEEE; 2010:87-93. doi:10.1109/ats.2010.24
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2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12985
Indlekofer T, Schnittger M, Hellebrand S. Efficient Test Response Compaction for Robust BIST Using Parity Sequences. In: 28th IEEE International Conference on Computer Design (ICCD’10). IEEE; 2010:480-485. doi:10.1109/iccd.2010.5647648
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2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12986
Hunger M, Hellebrand S. The Impact of Manufacturing Defects on the Fault Tolerance of TMR-Systems. In: 25th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’10). IEEE; 2010:101-108. doi:10.1109/dft.2010.19
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2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12988
Froese V, Ibers R, Hellebrand S. Reusing NoC-Infrastructure for Test Data Compression. In: 28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’10). IEEE; 2010:227-231. doi:10.1109/vts.2010.5469570
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2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13049
Becker B, Hellebrand S, Polian I, Straube B, Vermeiren W, Wunderlich H-J. Massive Statistical Process Variations - A Grand Challenge for Testing Nanoelectronic Circuits. In: 4th Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing (WDSN’10), (Invited Paper). ; 2010.
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2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13050
Indlekofer T, Schnittger M, Hellebrand S. Robuster Selbsttest mit extremer Kompaktierung. In: 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.” ; 2010:17-24.
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2010 | Journal Article | LibreCat-ID: 6067
Tseng P, Tuennermann J, Roker-Knight N, Winter D, Scharlau I, Bridgeman B. Enhancing implicit change detection through action. Perception. 2010;39(10):1311-1321.
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2010 | Journal Article | LibreCat-ID: 33640
Rezat S. Kausale Kohärenz: Von der grammatischen Beschreibung zur automatischen Textanalyse. Bericht über ein Kolloquium am Institut für Deutsche Sprache, Mannheim am 21.1.2008. Deutsche Sprache 38/3. Published online 2010:283-286.
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