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40 Publications


2023 | Misc | LibreCat-ID: 35204
A. Ghazal, S. Sadeghi-Kohan, J. D. Reimer, and S. Hellebrand, On Cryptography Effects on Interconnect Reliability. Erfurt, Germany: 35. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’23), Feb. 2023, 2023.
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2022 | Misc | LibreCat-ID: 29890
S. Sadeghi-Kohan, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, EM-Aware Interconnect BIST. Online: European Workshop on Silicon Lifecycle Management, March 18, 2022, 2022.
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2022 | Conference Paper | LibreCat-ID: 33914
I. Gräßler, B. Grewe, and H. Kramer, “Supporting Business Model Generation with Augmented Reality,” presented at the 33. ISPIM Innovation Conference “Innovating in a Digital World,” Copenhagen, 2022.
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2020 | Misc | LibreCat-ID: 15419
S. Sadeghi-Kohan and S. Hellebrand, Dynamic Multi-Frequency Test Method for Hidden Interconnect Defects. Ludwigsburg: 32. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’20), 16. - 18. Februar 2020, 2020.
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2019 | Misc | LibreCat-ID: 8112
M. U. Maaz, A. Sprenger, and S. Hellebrand, A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates. Prien am Chiemsee: 31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19), 2019.
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2018 | Misc | LibreCat-ID: 4576
A. Sprenger and S. Hellebrand, Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest. Freiburg, Germany: 30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18), 2018.
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2018 | Misc | LibreCat-ID: 13072
M. Kampmann and S. Hellebrand, Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion for Faster-than-at-Speed Test. 19th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China, 2018.
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2017 | Misc | LibreCat-ID: 13078
M. Kampmann and S. Hellebrand, X-tolerante Prüfzellengruppierung für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz. 29. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’17), Lübeck, Germany, 2017.
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2015 | Misc | LibreCat-ID: 13077
S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, and H.-J. Wunderlich, Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler. 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.
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2013 | Misc | LibreCat-ID: 13075
A. Cook, L. Rodriguez Gomez, S. Hellebrand, T. Indlekofer, and H.-J. Wunderlich, Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults. 14th Latin American Test Workshop, Cordoba, Argentina, 2013.
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2012 | Misc | LibreCat-ID: 13074
A. Cook, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, Eingebaute Selbstdiagnose mit zufälligen und deterministischen Mustern. 24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany, 2012.
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2010 | Misc | LibreCat-ID: 10670
V. Fröse, R. Ibers, and S. Hellebrand, Testdatenkompression mit Hilfe der Netzwerkinfrastruktur. 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany, 2010.
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2008 | Misc | LibreCat-ID: 13033
T. Coym, S. Hellebrand, S. Ludwig, B. Straube, H.-J. Wunderlich, and C. G. Zoellin, Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich, 2008.
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2008 | Misc | LibreCat-ID: 13035
U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, Testen mit Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute bei robusten Schaltungen. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich, 2008.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13038
S. Hellebrand, Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing. 5th IEEE East-West Design \& Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk), 2007.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13039
M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, and S. Hellebrand, An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips. DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster), 2007.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13042
P. Oehler, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany, 2007.
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2005 | Misc | LibreCat-ID: 13046
P. Oehler and S. Hellebrand, A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking. Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany, 2005.
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2005 | Misc | LibreCat-ID: 13101
M. Ali, M. Welzl, and S. Hellebrand, Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
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2005 | Misc | LibreCat-ID: 13102
P. Oehler and S. Hellebrand, Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
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2004 | Misc | LibreCat-ID: 13100
S. Hellebrand, A. Wuertenberger, and C. S. Tautermann, Data Compression for Multiple Scan Chains Using Dictionaries with Corrections. 9th IEEE European Test Symposium, Ajaccio, Corsica, France, 2004.
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2002 | Misc | LibreCat-ID: 13097
S. Hellebrand and A. Wuertenberger, Alternating Run-Length Coding: A Technique for Improved Test Data Compression. IEEE International Workshop on Test Resource Partitioning, Baltimore, MD, USA, 2002.
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2001 | Misc | LibreCat-ID: 13096
H.-G. Liang, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, Two-Dimensional Test Data Compression for Scan-Based Deterministic BIST. IEEE European Test Workshop, Stockholm, Sweden, 2001.
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2000 | Misc | LibreCat-ID: 13095
S. Hellebrand, H.-G. Liang, and H.-J. Wunderlich, A Mixed Mode BIST Scheme Based on Reseeding of Folding Counters. IEEE European Test Workshop, Cascais, Portugal, 2000.
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1999 | Misc | LibreCat-ID: 13093
S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, and V. N. Yarmolik, Exploiting Symmetries to Speed Up Transparent BIST. 11th GI/ITG/GMM/IEEE Workshop, 1999.
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1998 | Misc | LibreCat-ID: 13091
V. N. Yarmolik, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, Efficient Consistency Checking for Embedded Memories. 5th IEEE International Test Synthesis Workshop, Santa Barbara, CA, USA, 1998.
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1998 | Misc | LibreCat-ID: 13092
V. N. Yarmolik, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, Efficient Consistency Checking for Embedded Memories. 10th GI/ITG/GMM/IEEE Workshop, 1998.
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1997 | Misc | LibreCat-ID: 13089
K.-H. Tsai, S. Hellebrand, J. Rajski, and M. Marek-Sadowska, STARBIST: Scan Autocorrelated Random Pattern Generation. 4th IEEE International Test Synthesis Workshop, Santa Barbara, CA, USA, 1997.
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1997 | Misc | LibreCat-ID: 13090
A. Hertwig, S. Hellebrand, and H.-J. Wunderlich, Synthesis of Fast On-Line Testable Controllers for Data-Dominated Applications. 3rd IEEE International On-Line Testing Workshop, Crete, Greece, 1997.
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1996 | Misc | LibreCat-ID: 13087
S. Hellebrand and H.-J. Wunderlich, Using Embedded Processors for BIST. 3rd IEEE International Test Synthesis Workshop, Santa Barbara, CA, 1996.
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1996 | Misc | LibreCat-ID: 13088
S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, and A. Hertwig, Mixed-Mode BIST Using Embedded Processors. 2nd IEEE International On-Line Testing Workshop. Biarritz, France, 1996.
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1995 | Misc | LibreCat-ID: 13086
S. Hellebrand, B. Reeb, S. Tarnick, and H.-J. Wunderlich, Pattern Generation for a Deterministic BIST Scheme. 2nd IEEE International Test Synthesis Workshop, Santa Barbara, CA, 1995.
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1994 | Misc | LibreCat-ID: 13083
S. Venkataraman, J. Rajski, S. Hellebrand, and S. Tarnick, Effiziente Testsatzkodierung für Prüfpfad-basierte Selbsttestarchitekturen. 6th ITG/GI/GME Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Vaals, The Netherlands, 1994.
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1994 | Misc | LibreCat-ID: 13084
S. Hellebrand and H.-J. Wunderlich, Ein Verfahren zur testfreundlichen Steuerwerkssynthese. 6th ITG/GI/GME Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Vaals, The Netherlands, 1994.
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1994 | Misc | LibreCat-ID: 13085
S. Hellebrand, J. Paulo Teixeira, and H.-J. Wunderlich, Synthesis for Testability - the ARCHIMEDES Approach. 1st IEEE International Test Synthesis Workshop, Santa Barbara, CA, USA, 1994.
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1993 | Misc | LibreCat-ID: 13081
S. Hellebrand, S. Tarnick, J. Rajski, and B. Courtois, Effiziente Erzeugung deterministischer Muster im Selbsttest. 5th ITG/GI/GME Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Holzhau, Germany, 1993.
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1993 | Misc | LibreCat-ID: 13082
S. Hellebrand and H.-J. Wunderlich, Synthesis of Self-Testable Controllers. ARCHIMEDES Open Workshop on “Synthesis - Architectural Testability Support”, Montpellier, France, 1993.
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1992 | Misc | LibreCat-ID: 13076
S. Hellebrand, S. Tarnick, J. Rajski, and B. Courtois, Generation of Vector Patterns through Reseeding of Multiple-Polynomial LFSRs. IEEE Design for Testability Workshop, Vail, CO, USA, 1992.
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1992 | Misc | LibreCat-ID: 13080
S. Hellebrand, S. Tarnick, J. Rajski, and B. Courtois, Generation of Vector Patterns through Reseeding of Multiple-Polynomial LFSRs. Workshop on New Directions for Testing, Montreal, Canada, 1992.
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1990 | Misc | LibreCat-ID: 13103
S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, and O. F. Haberl, Generating Pseudo-Exhaustive Vectors for External Testing. IEEE Design for Testability Workshop, Vail, CO, USA, 1990.
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