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2778 Publications
2010 | Dissertation | LibreCat-ID: 30530
Entwurf und Betrieb hybrid-elektrischer Fahrzeugantriebe am Beispiel von Abfallsammelfahrzeugen
T. Knoke, Entwurf und Betrieb hybrid-elektrischer Fahrzeugantriebe am Beispiel von Abfallsammelfahrzeugen, 2010.
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T. Knoke, Entwurf und Betrieb hybrid-elektrischer Fahrzeugantriebe am Beispiel von Abfallsammelfahrzeugen, 2010.
2010 | Dissertation | LibreCat-ID: 30529
Wirkungsgradoptimierte Regelung hoch ausgenutzter Permanent-Synchronmaschinen im Antriebsstrang von Automobilen
M. Meyer, Wirkungsgradoptimierte Regelung hoch ausgenutzter Permanent-Synchronmaschinen im Antriebsstrang von Automobilen, 2010.
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M. Meyer, Wirkungsgradoptimierte Regelung hoch ausgenutzter Permanent-Synchronmaschinen im Antriebsstrang von Automobilen, 2010.
2010 | Dissertation | LibreCat-ID: 30528
Power Supplies for High-Power Piezoelectric Ultrasonic Motor
R. Li, Power Supplies for High-Power Piezoelectric Ultrasonic Motor, 2010.
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R. Li, Power Supplies for High-Power Piezoelectric Ultrasonic Motor, 2010.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12983
Variation-Aware Fault Modeling
F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 19th IEEE Asian Test Symposium (ATS’10), IEEE, Shanghai, China, 2010, pp. 87–93.
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F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 19th IEEE Asian Test Symposium (ATS’10), IEEE, Shanghai, China, 2010, pp. 87–93.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12985
Efficient Test Response Compaction for Robust BIST Using Parity Sequences
T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: 28th IEEE International Conference on Computer Design (ICCD’10), IEEE, Amsterdam, The Netherlands, 2010, pp. 480–485.
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T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: 28th IEEE International Conference on Computer Design (ICCD’10), IEEE, Amsterdam, The Netherlands, 2010, pp. 480–485.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12986
The Impact of Manufacturing Defects on the Fault Tolerance of TMR-Systems
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 25th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’10), IEEE, Kyoto, Japan, 2010, pp. 101–108.
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M. Hunger, S. Hellebrand, in: 25th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’10), IEEE, Kyoto, Japan, 2010, pp. 101–108.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12988
Reusing NoC-Infrastructure for Test Data Compression
V. Froese, R. Ibers, S. Hellebrand, in: 28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’10), IEEE, Santa Cruz, CA, USA, 2010, pp. 227–231.
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V. Froese, R. Ibers, S. Hellebrand, in: 28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’10), IEEE, Santa Cruz, CA, USA, 2010, pp. 227–231.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13049
Massive Statistical Process Variations - A Grand Challenge for Testing Nanoelectronic Circuits
B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 4th Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing (WDSN’10), (Invited Paper), Chicago, IL, USA, 2010.
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B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 4th Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing (WDSN’10), (Invited Paper), Chicago, IL, USA, 2010.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13050
Robuster Selbsttest mit extremer Kompaktierung
T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Wildbad Kreuth, Germany, 2010, pp. 17–24.
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T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Wildbad Kreuth, Germany, 2010, pp. 17–24.
2010 | Journal Article | LibreCat-ID: 38484
Phase-Noise-Tolerant Two-Stage Carrier Recovery Concept for Higher Order QAM Formats
T. Pfau, R. Noé, IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS 16 (2010) 1210–1216.
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T. Pfau, R. Noé, IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS 16 (2010) 1210–1216.