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165 Publications
2009 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13030
Robustheitsanalyse stark fehlersicherer Schaltungen mit SAT-basierter Testmustererzeugung
M. Hunger, S. Hellebrand, A. Czutro, I. Polian, B. Becker, in: 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Stuttgart, Germany, 2009.
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M. Hunger, S. Hellebrand, A. Czutro, I. Polian, B. Becker, in: 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Stuttgart, Germany, 2009.
2008 | Misc | LibreCat-ID: 13033
Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit
T. Coym, S. Hellebrand, S. Ludwig, B. Straube, H.-J. Wunderlich, C. G. Zoellin, Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich, 2008.
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T. Coym, S. Hellebrand, S. Ludwig, B. Straube, H.-J. Wunderlich, C. G. Zoellin, Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich, 2008.
2008 | Misc | LibreCat-ID: 13035
Testen mit Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute bei robusten Schaltungen
U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich, 2008.
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U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich, 2008.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12992
A Modular Memory BIST for Optimized Memory Repair
P. Oehler, A. Bosio, G. di Natale, S. Hellebrand, in: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), (Poster), IEEE, Rhodos, Greece, 2008.
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P. Oehler, A. Bosio, G. di Natale, S. Hellebrand, in: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), (Poster), IEEE, Rhodos, Greece, 2008.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12994
Signature Rollback - A Technique for Testing Robust Circuits
U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 26th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’08), IEEE, San Diego, CA, USA, 2008, pp. 125–130.
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| DOI
U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 26th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’08), IEEE, San Diego, CA, USA, 2008, pp. 125–130.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12993
Verification and Analysis of Self-Checking Properties through ATPG
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), IEEE, Rhodos, Greece, 2008.
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| DOI
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), IEEE, Rhodos, Greece, 2008.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13031
Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Ingolstadt, Germany, 2008.
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M. Hunger, S. Hellebrand, in: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Ingolstadt, Germany, 2008.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13032
Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse
P. Oehler, A. Bosio, G. Di Natale, S. Hellebrand, in: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Ingolstadt, Germany, 2008.
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P. Oehler, A. Bosio, G. Di Natale, S. Hellebrand, in: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Ingolstadt, Germany, 2008.
2007 | Misc | LibreCat-ID: 13038
Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing
S. Hellebrand, Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing, 5th IEEE East-West Design \& Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk), 2007.
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S. Hellebrand, Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing, 5th IEEE East-West Design \& Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk), 2007.
2007 | Misc | LibreCat-ID: 13039
An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips
M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, S. Hellebrand, An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips, DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster), 2007.
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M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, S. Hellebrand, An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips, DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster), 2007.
2007 | Misc | LibreCat-ID: 13042
An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany, 2007.
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P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany, 2007.
2007 | Misc | LibreCat-ID: 13043
Qualitätssicherung für Nanochips - Wie IT-Produkte zuverlässig werden
S. Hellebrand, Qualitätssicherung Für Nanochips - Wie IT-Produkte Zuverlässig Werden, ForschungsForum Paderborn, 10. Ausgabe, Paderborn, Germany, 2007.
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S. Hellebrand, Qualitätssicherung Für Nanochips - Wie IT-Produkte Zuverlässig Werden, ForschungsForum Paderborn, 10. Ausgabe, Paderborn, Germany, 2007.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12995
A Refined Electrical Model for Particle Strikes and its Impact on SEU Prediction
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, in: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT’07), IEEE, Rome, Italy, 2007, pp. 50–58.
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S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, in: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT’07), IEEE, Rome, Italy, 2007, pp. 50–58.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12996
Analyzing Test and Repair Times for 2D Integrated Memory Built-in Test and Repair
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 10th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’07), IEEE, Krakow, Poland, 2007, pp. 185–190.
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| DOI
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 10th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’07), IEEE, Krakow, Poland, 2007, pp. 185–190.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12997
An Integrated Built-In Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 12th IEEE European Test Symposium (ETS’07), IEEE, Freiburg, Germany, 2007, pp. 91–96.
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| DOI
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 12th IEEE European Test Symposium (ETS’07), IEEE, Freiburg, Germany, 2007, pp. 91–96.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13037
Testing and Monitoring Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for Advanced Quality Assurance
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, in: 43rd International Conference on Microelectronics, Devices and Material with the Workshop on Electronic Testing (MIDEM’07), (Invited Paper), Bled, Slovenia, 2007.
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S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, in: 43rd International Conference on Microelectronics, Devices and Material with the Workshop on Electronic Testing (MIDEM’07), (Invited Paper), Bled, Slovenia, 2007.
2007 | Journal Article | LibreCat-ID: 13036
Testing and Monitoring Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for Advanced Quality Assurance
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, Informacije MIDEM, Ljubljana (Invited Paper) 37 (2007) 212–219.
LibreCat
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, Informacije MIDEM, Ljubljana (Invited Paper) 37 (2007) 212–219.
2007 | Journal Article | LibreCat-ID: 13044
An Efficient Fault Tolerant Mechanism to Deal with Permanent and Transient Failures in a Network on Chip
M. Ali, S. Hessler, M. Welzl, S. Hellebrand, International Journal on High Performance Systems Architecture 1 (2007) 113–123.
LibreCat
M. Ali, S. Hessler, M. Welzl, S. Hellebrand, International Journal on High Performance Systems Architecture 1 (2007) 113–123.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13040
A Fault Tolerant Mechanism for Handling Permanent and Transient Failures in a Network on Chip
M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, S. Hellebrand, in: 4th International Conference on Information Technology: New Generations (ITNG’07), Las Vegas, Nevada, USA, 2007, pp. 1027–1032.
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M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, S. Hellebrand, in: 4th International Conference on Information Technology: New Generations (ITNG’07), Las Vegas, Nevada, USA, 2007, pp. 1027–1032.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13041
Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, in: 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Munich, Germany, 2007.
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B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, in: 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Munich, Germany, 2007.