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165 Publications
2009 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13030
Hunger M, Hellebrand S, Czutro A, Polian I, Becker B. Robustheitsanalyse stark fehlersicherer Schaltungen mit SAT-basierter Testmustererzeugung. In: 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.” ; 2009.
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2008 | Misc | LibreCat-ID: 13033
Coym T, Hellebrand S, Ludwig S, Straube B, Wunderlich H-J, G. Zoellin C. Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich; 2008.
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2008 | Misc | LibreCat-ID: 13035
Amgalan U, Hachmann C, Hellebrand S, Wunderlich H-J. Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen. 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich; 2008.
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2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12992
Oehler P, Bosio A, di Natale G, Hellebrand S. A Modular Memory BIST for Optimized Memory Repair. In: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), (Poster). IEEE; 2008. doi:10.1109/iolts.2008.30
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2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12994
Amgalan U, Hachmann C, Hellebrand S, Wunderlich H-J. Signature Rollback - A Technique for Testing Robust Circuits. In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’08). IEEE; 2008:125-130. doi:10.1109/vts.2008.34
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2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12993
Hunger M, Hellebrand S. Verification and Analysis of Self-Checking Properties through ATPG. In: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08). IEEE; 2008. doi:10.1109/iolts.2008.32
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2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13031
Hunger M, Hellebrand S. Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG. In: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.” ; 2008.
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2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13032
Oehler P, Bosio A, Di Natale G, Hellebrand S. Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse. In: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.” ; 2008.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13038
Hellebrand S. Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing. 5th IEEE East-West Design \& Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk); 2007.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13039
Ali M, Welzl M, Hessler S, Hellebrand S. An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips. DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster); 2007.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13042
Oehler P, Hellebrand S, Wunderlich H-J. An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy. 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany; 2007.
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2007 | Misc | LibreCat-ID: 13043
Hellebrand S. Qualitätssicherung Für Nanochips - Wie IT-Produkte Zuverlässig Werden. ForschungsForum Paderborn, 10. Ausgabe, Paderborn, Germany; 2007.
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2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12995
Hellebrand S, G. Zoellin C, Wunderlich H-J, Ludwig S, Coym T, Straube B. A Refined Electrical Model for Particle Strikes and its Impact on SEU Prediction. In: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT’07). IEEE; 2007:50-58. doi:10.1109/dft.2007.43
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2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12996
Oehler P, Hellebrand S, Wunderlich H-J. Analyzing Test and Repair Times for 2D Integrated Memory Built-in Test and Repair. In: 10th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’07). IEEE; 2007:185-190. doi:10.1109/ddecs.2007.4295278
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2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12997
Oehler P, Hellebrand S, Wunderlich H-J. An Integrated Built-In Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy. In: 12th IEEE European Test Symposium (ETS’07). IEEE; 2007:91-96. doi:10.1109/ets.2007.10
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2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13037
Hellebrand S, G. Zoellin C, Wunderlich H-J, Ludwig S, Coym T, Straube B. Testing and Monitoring Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for Advanced Quality Assurance. In: 43rd International Conference on Microelectronics, Devices and Material with the Workshop on Electronic Testing (MIDEM’07), (Invited Paper). ; 2007.
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2007 | Journal Article | LibreCat-ID: 13036
Hellebrand S, G. Zoellin C, Wunderlich H-J, Ludwig S, Coym T, Straube B. Testing and Monitoring Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for Advanced Quality Assurance. Informacije MIDEM, Ljubljana (Invited Paper). 2007;37(4 (124)):212-219.
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2007 | Journal Article | LibreCat-ID: 13044
Ali M, Hessler S, Welzl M, Hellebrand S. An Efficient Fault Tolerant Mechanism to Deal with Permanent and Transient Failures in a Network on Chip. International Journal on High Performance Systems Architecture. 2007;1(2):113-123.
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2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13040
Ali M, Welzl M, Hessler S, Hellebrand S. A Fault Tolerant Mechanism for Handling Permanent and Transient Failures in a Network on Chip. In: 4th International Conference on Information Technology: New Generations (ITNG’07). ; 2007:1027-1032.
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2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13041
Becker B, Polian I, Hellebrand S, Straube B, Wunderlich H-J. Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme. In: 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf.” ; 2007.
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