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136 Publications


2019 | Misc | LibreCat-ID: 8112
A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates
M.U. Maaz, A. Sprenger, S. Hellebrand, A Hybrid Space Compactor for Varying X-Rates, 31. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’19), Prien am Chiemsee, 2019.
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2019 | Journal Article | LibreCat-ID: 8667
Divide and Compact - Stochastic Space Compaction for Faster-than-At-Speed Test
A. Sprenger, S. Hellebrand, Journal of Circuits, Systems and Computers (2019).
LibreCat | DOI
 

2019 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12918
A Hybrid Space Compactor for Adaptive X-Handling
M.U. Maaz, A. Sprenger, S. Hellebrand, in: 50th IEEE International Test Conference, IEEE, Washington D.C., n.d.
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2019 | Journal Article | LibreCat-ID: 13048
Built-in Test for Hidden Delay Faults
M. Kampmann, M. A. Kochte, C. Liu, E. Schneider, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD) 38 (2019) 1956–1968.
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2018 | Misc | LibreCat-ID: 4576
Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest
A. Sprenger, S. Hellebrand, Stochastische Kompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest, 30. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’18), Freiburg, Germany, 2018.
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2018 | Journal Article | LibreCat-ID: 13057
Design For Small Delay Test - A Simulation Study
M. Kampmann, S. Hellebrand, Microelectronics Reliability 80 (2018) 124–133.
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2018 | Misc | LibreCat-ID: 13072
Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion for Faster-than-at-Speed Test
M. Kampmann, S. Hellebrand, Optimized Constraints for Scan-Chain Insertion for Faster-than-at-Speed Test, 19th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT’18), Hefei, Anhui, China, 2018.
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2018 | Journal Article | LibreCat-ID: 12974
Guest Editors' Introduction - Special Issue on Approximate Computing
S. Hellebrand, J. Henkel, A. Raghunathan, H.-J. Wunderlich, {IEEE Embedded Systems Letters} 10 (2018) 1–1.
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2018 | Conference Paper | LibreCat-ID: 10575
Extending Aging Monitors for Early Life and Wear-Out Failure Prevention
C. Liu, E. Schneider, M. Kampmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 2018 IEEE 27th Asian Test Symposium (ATS), 2018.
LibreCat | DOI
 

2018 | Conference Paper | LibreCat-ID: 4575
Tuning Stochastic Space Compaction to Faster-than-at-Speed Test
A. Sprenger, S. Hellebrand, in: 2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), IEEE, Budapest, 2018.
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2017 | Conference Paper | LibreCat-ID: 10576
Design-for-FAST: Supporting X-tolerant compaction during Faster-than-at-Speed Test
M. Kampmann, S. Hellebrand, in: 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017.
LibreCat | DOI
 

2017 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12973
Special Session on Early Life Failures
J. Deshmukh, W. Kunz, H.-J. Wunderlich, S. Hellebrand, in: {35th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’17)}, {IEEE}, Caesars Palace, Las Vegas, Nevada, USA, 2017.
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2017 | Misc | LibreCat-ID: 13078
X-tolerante Prüfzellengruppierung für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz
M. Kampmann, S. Hellebrand, X-Tolerante Prüfzellengruppierung Für Den Test Mit Erhöhter Betriebsfrequenz, 29. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’17), Lübeck, Germany, 2017.
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2016 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12975
X Marks the Spot: Scan-Flip-Flop Clustering for Faster-than-at-Speed Test
M. Kampmann, S. Hellebrand, in: {25th IEEE Asian Test Symposium (ATS’16)}, {IEEE}, Hiroshima, Japan, 2016, pp. 1–6.
LibreCat | DOI
 

2015 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12976
Optimized Selection of Frequencies for Faster-Than-at-Speed Test
M. Kampmann, M. A. Kochte, E. Schneider, T. Indlekofer, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: {24th IEEE Asian Test Symposium (ATS’15)}, {IEEE}, Mumbai, India, 2015, pp. 109–114.
LibreCat | DOI
 

2015 | Journal Article | LibreCat-ID: 13056
A High Performance SEU Tolerant Latch
Z. Huang, H. Liang, S. Hellebrand, {Journal of Electronic Testing - Theory and Applications (JETTA)} 31 (2015) 349–359.
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2015 | Misc | LibreCat-ID: 13077
Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler
S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H.-J. Wunderlich, Effiziente Auswahl von Testfrequenzen Für Den Test Kleiner Verzögerungsfehler, 27. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’15), Bad Urach, Germany, 2015.
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2014 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12977
FAST-BIST: Faster-than-at-Speed BIST Targeting Hidden Delay Defects
S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. A. Kochte, C. Liu, H.-J. Wunderlich, in: {IEEE International Test Conference (ITC’14)}, {IEEE}, Seattle, Washington, USA, 2014.
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2014 | Journal Article | LibreCat-ID: 13054
SAT-Based ATPG beyond Stuck-at Fault Testing
S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, {DeGruyter Journal on Information Technology (It)} 56 (2014) 165–172.
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2014 | Journal Article | LibreCat-ID: 13055
Adaptive Bayesian Diagnosis of Intermittent Faults
L. Rodriguez Gomez, A. Cook, T. Indlekofer, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, {Journal of Electronic Testing - Theory and Applications (JETTA)} 30 (2014) 527–540.
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2013 | Misc | LibreCat-ID: 13075
Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults
A. Cook, L. Rodriguez Gomez, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich, Adaptive Test and Diagnosis of Intermittent Faults, 14th Latin American Test Workshop, Cordoba, Argentina, 2013.
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2013 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12979
Analyzing and Quantifying Fault Tolerance Properties
S. Hellebrand, in: {14th IEEE Latin American Test Workshop - (LATW’13)}, {IEEE}, Cordoba, Argentina, 2013.
LibreCat | DOI
 

2012 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12980
Built-in Self-Diagnosis Targeting Arbitrary Defects with Partial Pseudo-Exhaustive Test
A. Cook, S. Hellebrand, M. E. Imhof, A. Mumtaz, H.-J. Wunderlich, in: {13th IEEE Latin American Test Workshop (LATW’12)}, {IEEE}, Quito, Ecuador, 2012, pp. 1–4.
LibreCat | DOI
 

2012 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12981
Built-in Self-Diagnosis Exploiting Strong Diagnostic Windows in Mixed-Mode Test
A. Cook, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: {17th IEEE European Test Symposium (ETS’12)}, {IEEE}, Annecy, France, 2012, pp. 1–6.
LibreCat | DOI
 

2012 | Misc | LibreCat-ID: 13074
Eingebaute Selbstdiagnose mit zufälligen und deterministischen Mustern
A. Cook, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Eingebaute Selbstdiagnose Mit Zufälligen Und Deterministischen Mustern, 24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany, 2012.
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2011 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12984
Towards Variation-Aware Test Methods
I. Polian, B. Becker, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, P. Maxwell, in: {16th IEEE European Test Symposium Trondheim (ETS’11),(Embedded Tutorial)}, {IEEE}, Trondheim, Norway, 2011.
LibreCat | DOI
 

2011 | Journal Article | LibreCat-ID: 13052
Variation-Aware Fault Modeling
F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, {SCIENCE CHINA Information Sciences, Science China Press, Co-Published with Springer} 54 (2011) 1813–1826.
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2011 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13053
Robuster Selbsttest mit Diagnose
A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich, in: {5. GMM/GI/ITG Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}, Hamburg, Germany, 2011, pp. 48–53.
LibreCat
 

2011 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12982
Diagnostic Test of Robust Circuits
A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich, in: {20th IEEE Asian Test Symposium (ATS’11)}, {IEEE}, New Delhi, India, 2011, pp. 285–290.
LibreCat | DOI
 

2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12983
Variation-Aware Fault Modeling
F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: {19th IEEE Asian Test Symposium (ATS’10)}, {IEEE}, Shanghai, China, 2010, pp. 87–93.
LibreCat | DOI
 

2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12988
Reusing NoC-Infrastructure for Test Data Compression
V. Froese, R. Ibers, S. Hellebrand, in: {28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’10)}, {IEEE}, Santa Cruz, CA, USA, 2010, pp. 227–231.
LibreCat | DOI
 

2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13049
Massive Statistical Process Variations - A Grand Challenge for Testing Nanoelectronic Circuits
B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: {4th Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing (WDSN’10), (Invited Paper)}, Chicago, IL, USA, 2010.
LibreCat
 

2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13051
Ausbeute und Fehlertoleranz bei dreifach modularer Redundanz
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Wildbad Kreuth, Germany, 2010, pp. 81–88.
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2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12985
Efficient Test Response Compaction for Robust BIST Using Parity Sequences
T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: {28th IEEE International Conference on Computer Design (ICCD’10)}, {IEEE}, Amsterdam, The Netherlands, 2010, pp. 480–485.
LibreCat | DOI
 

2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12986
The Impact of Manufacturing Defects on the Fault Tolerance of TMR-Systems
M. Hunger, S. Hellebrand, in: {25th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’10)}, {IEEE}, Kyoto, Japan, 2010, pp. 101–108.
LibreCat | DOI
 

2010 | Misc | LibreCat-ID: 10670
Testdatenkompression mit Hilfe der Netzwerkinfrastruktur
V. Fröse, R. Ibers, S. Hellebrand, Testdatenkompression Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur, 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany, 2010.
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2010 | Misc | LibreCat-ID: 13073
Nano-Electronic Systems
S. Hellebrand, Nano-Electronic Systems, Editorial, it 4/2010, pp. 179-180, 2010.
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2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12987
Massive Statistical Process Variations - A Grand Challenge for Testing Nanoelectronic Circuits
B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: {40th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W’10)}, {IEEE}, Chicago, IL, USA, 2010.
LibreCat | DOI
 

2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13050
Robuster Selbsttest mit extremer Kompaktierung
T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: {4. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}, Wildbad Kreuth, Germany, 2010, pp. 17–24.
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2009 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12990
Are Robust Circuits Really Robust?
S. Hellebrand, M. Hunger, in: {24th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’09), (Invited Talk)}, {IEEE}, Chicago, IL, USA, 2009, p. 77.
LibreCat | DOI
 

2009 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12991
ATPG-Based Grading of Strong Fault-Secureness
M. Hunger, S. Hellebrand, A. Czutro, I. Polian, B. Becker, in: {15th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’09)}, {IEEE}, Sesimbra-Lisbon, Portugal, 2009.
LibreCat | DOI
 

2009 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13030
Robustheitsanalyse stark fehlersicherer Schaltungen mit SAT-basierter Testmustererzeugung
M. Hunger, S. Hellebrand, A. Czutro, I. Polian, B. Becker, in: {3. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}, Stuttgart, Germany, 2009.
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2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13032
Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse
P. Oehler, A. Bosio, G. Di Natale, S. Hellebrand, in: {2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}, Ingolstadt, Germany, 2008.
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2008 | Misc | LibreCat-ID: 13033
Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit
T. Coym, S. Hellebrand, S. Ludwig, B. Straube, H.-J. Wunderlich, C. G. Zoellin, Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich, 2008.
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2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12992
A Modular Memory BIST for Optimized Memory Repair
P. Oehler, A. Bosio, G. di Natale, S. Hellebrand, in: {14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), (Poster)}, {IEEE}, Rhodos, Greece, 2008.
LibreCat | DOI
 

2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12993
Verification and Analysis of Self-Checking Properties through ATPG
M. Hunger, S. Hellebrand, in: {14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08)}, {IEEE}, Rhodos, Greece, 2008.
LibreCat | DOI
 

2008 | Misc | LibreCat-ID: 13035
Testen mit Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute bei robusten Schaltungen
U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich, 2008.
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2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12994
Signature Rollback - A Technique for Testing Robust Circuits
U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: {26th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’08)}, {IEEE}, San Diego, CA, USA, 2008, pp. 125–130.
LibreCat | DOI
 

2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13031
Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG
M. Hunger, S. Hellebrand, in: {2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf”}, Ingolstadt, Germany, 2008.
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2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12995
A Refined Electrical Model for Particle Strikes and its Impact on SEU Prediction
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, in: {22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT’07)}, {IEEE}, Rome, Italy, 2007, pp. 50–58.
LibreCat | DOI
 

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