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165 Publications
2012 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12980
Built-in Self-Diagnosis Targeting Arbitrary Defects with Partial Pseudo-Exhaustive Test
A. Cook, S. Hellebrand, M. E. Imhof, A. Mumtaz, H.-J. Wunderlich, in: 13th IEEE Latin American Test Workshop (LATW’12), IEEE, Quito, Ecuador, 2012, pp. 1–4.
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A. Cook, S. Hellebrand, M. E. Imhof, A. Mumtaz, H.-J. Wunderlich, in: 13th IEEE Latin American Test Workshop (LATW’12), IEEE, Quito, Ecuador, 2012, pp. 1–4.
2012 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12981
Built-in Self-Diagnosis Exploiting Strong Diagnostic Windows in Mixed-Mode Test
A. Cook, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 17th IEEE European Test Symposium (ETS’12), IEEE, Annecy, France, 2012, pp. 1–6.
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A. Cook, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 17th IEEE European Test Symposium (ETS’12), IEEE, Annecy, France, 2012, pp. 1–6.
2012 | Misc | LibreCat-ID: 13074
Eingebaute Selbstdiagnose mit zufälligen und deterministischen Mustern
A. Cook, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Eingebaute Selbstdiagnose Mit Zufälligen Und Deterministischen Mustern, 24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany, 2012.
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A. Cook, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Eingebaute Selbstdiagnose Mit Zufälligen Und Deterministischen Mustern, 24. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’12), Cottbus, Germany, 2012.
2011 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12982
Diagnostic Test of Robust Circuits
A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich, in: 20th IEEE Asian Test Symposium (ATS’11), IEEE, New Delhi, India, 2011, pp. 285–290.
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A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich, in: 20th IEEE Asian Test Symposium (ATS’11), IEEE, New Delhi, India, 2011, pp. 285–290.
2011 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12984
Towards Variation-Aware Test Methods
I. Polian, B. Becker, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, P. Maxwell, in: 16th IEEE European Test Symposium Trondheim (ETS’11), IEEE, Trondheim, Norway, 2011.
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I. Polian, B. Becker, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, P. Maxwell, in: 16th IEEE European Test Symposium Trondheim (ETS’11), IEEE, Trondheim, Norway, 2011.
2011 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13053
Robuster Selbsttest mit Diagnose
A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich, in: 5. GMM/GI/ITG Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Hamburg, Germany, 2011, pp. 48–53.
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A. Cook, S. Hellebrand, T. Indlekofer, H.-J. Wunderlich, in: 5. GMM/GI/ITG Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Hamburg, Germany, 2011, pp. 48–53.
2011 | Journal Article | LibreCat-ID: 13052
Variation-Aware Fault Modeling
F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, SCIENCE CHINA Information Sciences, Science China Press, Co-Published with Springer 54 (2011) 1813–1826.
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F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, SCIENCE CHINA Information Sciences, Science China Press, Co-Published with Springer 54 (2011) 1813–1826.
2011 | Conference Paper | LibreCat-ID: 46272
Virtual tester development using HDL/PLI
A. Kamran, N. Nemati, S. Sadeghi-Kohan, Z. Navabi, in: 2010 East-West Design & Test Symposium (EWDTS), IEEE, 2011.
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| DOI
A. Kamran, N. Nemati, S. Sadeghi-Kohan, Z. Navabi, in: 2010 East-West Design & Test Symposium (EWDTS), IEEE, 2011.
2010 | Misc | LibreCat-ID: 10670
Testdatenkompression mit Hilfe der Netzwerkinfrastruktur
V. Fröse, R. Ibers, S. Hellebrand, Testdatenkompression Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur, 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany, 2010.
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V. Fröse, R. Ibers, S. Hellebrand, Testdatenkompression Mit Hilfe Der Netzwerkinfrastruktur, 22. Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (TuZ’10), Paderborn, Germany, 2010.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12987
Massive Statistical Process Variations - A Grand Challenge for Testing Nanoelectronic Circuits
B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 40th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W’10), IEEE, Chicago, IL, USA, 2010.
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B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 40th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W’10), IEEE, Chicago, IL, USA, 2010.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13051
Ausbeute und Fehlertoleranz bei dreifach modularer Redundanz
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Wildbad Kreuth, Germany, 2010, pp. 81–88.
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M. Hunger, S. Hellebrand, in: 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Wildbad Kreuth, Germany, 2010, pp. 81–88.
2010 | Misc | LibreCat-ID: 13073
Nano-Electronic Systems
S. Hellebrand, Nano-Electronic Systems, Editorial, it 4/2010, pp. 179-180, 2010.
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S. Hellebrand, Nano-Electronic Systems, Editorial, it 4/2010, pp. 179-180, 2010.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12983
Variation-Aware Fault Modeling
F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 19th IEEE Asian Test Symposium (ATS’10), IEEE, Shanghai, China, 2010, pp. 87–93.
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F. Hopsch, B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 19th IEEE Asian Test Symposium (ATS’10), IEEE, Shanghai, China, 2010, pp. 87–93.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12985
Efficient Test Response Compaction for Robust BIST Using Parity Sequences
T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: 28th IEEE International Conference on Computer Design (ICCD’10), IEEE, Amsterdam, The Netherlands, 2010, pp. 480–485.
LibreCat
| DOI
T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: 28th IEEE International Conference on Computer Design (ICCD’10), IEEE, Amsterdam, The Netherlands, 2010, pp. 480–485.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12986
The Impact of Manufacturing Defects on the Fault Tolerance of TMR-Systems
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 25th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’10), IEEE, Kyoto, Japan, 2010, pp. 101–108.
LibreCat
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M. Hunger, S. Hellebrand, in: 25th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’10), IEEE, Kyoto, Japan, 2010, pp. 101–108.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12988
Reusing NoC-Infrastructure for Test Data Compression
V. Froese, R. Ibers, S. Hellebrand, in: 28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’10), IEEE, Santa Cruz, CA, USA, 2010, pp. 227–231.
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V. Froese, R. Ibers, S. Hellebrand, in: 28th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’10), IEEE, Santa Cruz, CA, USA, 2010, pp. 227–231.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13049
Massive Statistical Process Variations - A Grand Challenge for Testing Nanoelectronic Circuits
B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 4th Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing (WDSN’10), (Invited Paper), Chicago, IL, USA, 2010.
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B. Becker, S. Hellebrand, I. Polian, B. Straube, W. Vermeiren, H.-J. Wunderlich, in: 4th Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing (WDSN’10), (Invited Paper), Chicago, IL, USA, 2010.
2010 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13050
Robuster Selbsttest mit extremer Kompaktierung
T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Wildbad Kreuth, Germany, 2010, pp. 17–24.
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T. Indlekofer, M. Schnittger, S. Hellebrand, in: 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Wildbad Kreuth, Germany, 2010, pp. 17–24.
2009 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12991
ATPG-Based Grading of Strong Fault-Secureness
M. Hunger, S. Hellebrand, A. Czutro, I. Polian, B. Becker, in: 15th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’09, IEEE, Sesimbra-Lisbon, Portugal, 2009.
LibreCat
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M. Hunger, S. Hellebrand, A. Czutro, I. Polian, B. Becker, in: 15th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’09, IEEE, Sesimbra-Lisbon, Portugal, 2009.
2009 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12990
Are Robust Circuits Really Robust?
S. Hellebrand, M. Hunger, in: 24th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’09), (Invited Talk), IEEE, Chicago, IL, USA, 2009, p. 77.
LibreCat
| DOI
S. Hellebrand, M. Hunger, in: 24th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’09), (Invited Talk), IEEE, Chicago, IL, USA, 2009, p. 77.
2009 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13030
Robustheitsanalyse stark fehlersicherer Schaltungen mit SAT-basierter Testmustererzeugung
M. Hunger, S. Hellebrand, A. Czutro, I. Polian, B. Becker, in: 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Stuttgart, Germany, 2009.
LibreCat
M. Hunger, S. Hellebrand, A. Czutro, I. Polian, B. Becker, in: 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Stuttgart, Germany, 2009.
2008 | Misc | LibreCat-ID: 13033
Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit
T. Coym, S. Hellebrand, S. Ludwig, B. Straube, H.-J. Wunderlich, C. G. Zoellin, Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich, 2008.
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T. Coym, S. Hellebrand, S. Ludwig, B. Straube, H.-J. Wunderlich, C. G. Zoellin, Ein Verfeinertes Elektrisches Modell Für Teilchentreffer Und Dessen Auswirkung Auf Die Bewertung Der Schaltungsempfindlichkeit, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” (Poster), Wien, Österreich, 2008.
2008 | Misc | LibreCat-ID: 13035
Testen mit Rücksetzpunkten - ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute bei robusten Schaltungen
U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich, 2008.
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U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, Testen Mit Rücksetzpunkten - Ein Ansatz Zur Verbesserung Der Ausbeute Bei Robusten Schaltungen, 20. ITG/GI/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Wien, Österreich, 2008.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12992
A Modular Memory BIST for Optimized Memory Repair
P. Oehler, A. Bosio, G. di Natale, S. Hellebrand, in: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), (Poster), IEEE, Rhodos, Greece, 2008.
LibreCat
| DOI
P. Oehler, A. Bosio, G. di Natale, S. Hellebrand, in: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), (Poster), IEEE, Rhodos, Greece, 2008.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12994
Signature Rollback - A Technique for Testing Robust Circuits
U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 26th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’08), IEEE, San Diego, CA, USA, 2008, pp. 125–130.
LibreCat
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U. Amgalan, C. Hachmann, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 26th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’08), IEEE, San Diego, CA, USA, 2008, pp. 125–130.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12993
Verification and Analysis of Self-Checking Properties through ATPG
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), IEEE, Rhodos, Greece, 2008.
LibreCat
| DOI
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS’08), IEEE, Rhodos, Greece, 2008.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13031
Analyse selbstprüfender Schaltungen – Nachweis von Fehlersicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Ingolstadt, Germany, 2008.
LibreCat
M. Hunger, S. Hellebrand, in: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Ingolstadt, Germany, 2008.
2008 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13032
Modularer Selbsttest und optimierte Reparaturanalyse
P. Oehler, A. Bosio, G. Di Natale, S. Hellebrand, in: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Ingolstadt, Germany, 2008.
LibreCat
P. Oehler, A. Bosio, G. Di Natale, S. Hellebrand, in: 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Ingolstadt, Germany, 2008.
2007 | Misc | LibreCat-ID: 13038
Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing
S. Hellebrand, Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing, 5th IEEE East-West Design \& Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk), 2007.
LibreCat
S. Hellebrand, Reliable Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for On- and Offline Testing, 5th IEEE East-West Design \& Test Symposium, Yerevan, Armenia (Invited Talk), 2007.
2007 | Misc | LibreCat-ID: 13039
An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips
M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, S. Hellebrand, An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips, DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster), 2007.
LibreCat
M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, S. Hellebrand, An End-to-End Reliability Protocol to Address Transient Faults in Network on Chips, DATE 2007 Friday Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips, Nice, France, (Poster), 2007.
2007 | Misc | LibreCat-ID: 13042
An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany, 2007.
LibreCat
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Erlangen, Germany, 2007.
2007 | Misc | LibreCat-ID: 13043
Qualitätssicherung für Nanochips - Wie IT-Produkte zuverlässig werden
S. Hellebrand, Qualitätssicherung Für Nanochips - Wie IT-Produkte Zuverlässig Werden, ForschungsForum Paderborn, 10. Ausgabe, Paderborn, Germany, 2007.
LibreCat
S. Hellebrand, Qualitätssicherung Für Nanochips - Wie IT-Produkte Zuverlässig Werden, ForschungsForum Paderborn, 10. Ausgabe, Paderborn, Germany, 2007.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12995
A Refined Electrical Model for Particle Strikes and its Impact on SEU Prediction
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, in: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT’07), IEEE, Rome, Italy, 2007, pp. 50–58.
LibreCat
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S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, in: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT’07), IEEE, Rome, Italy, 2007, pp. 50–58.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12996
Analyzing Test and Repair Times for 2D Integrated Memory Built-in Test and Repair
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 10th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’07), IEEE, Krakow, Poland, 2007, pp. 185–190.
LibreCat
| DOI
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 10th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’07), IEEE, Krakow, Poland, 2007, pp. 185–190.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12997
An Integrated Built-In Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 12th IEEE European Test Symposium (ETS’07), IEEE, Freiburg, Germany, 2007, pp. 91–96.
LibreCat
| DOI
P. Oehler, S. Hellebrand, H.-J. Wunderlich, in: 12th IEEE European Test Symposium (ETS’07), IEEE, Freiburg, Germany, 2007, pp. 91–96.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13037
Testing and Monitoring Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for Advanced Quality Assurance
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, in: 43rd International Conference on Microelectronics, Devices and Material with the Workshop on Electronic Testing (MIDEM’07), (Invited Paper), Bled, Slovenia, 2007.
LibreCat
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, in: 43rd International Conference on Microelectronics, Devices and Material with the Workshop on Electronic Testing (MIDEM’07), (Invited Paper), Bled, Slovenia, 2007.
2007 | Journal Article | LibreCat-ID: 13036
Testing and Monitoring Nanoscale Systems - Challenges and Strategies for Advanced Quality Assurance
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, Informacije MIDEM, Ljubljana (Invited Paper) 37 (2007) 212–219.
LibreCat
S. Hellebrand, C. G. Zoellin, H.-J. Wunderlich, S. Ludwig, T. Coym, B. Straube, Informacije MIDEM, Ljubljana (Invited Paper) 37 (2007) 212–219.
2007 | Journal Article | LibreCat-ID: 13044
An Efficient Fault Tolerant Mechanism to Deal with Permanent and Transient Failures in a Network on Chip
M. Ali, S. Hessler, M. Welzl, S. Hellebrand, International Journal on High Performance Systems Architecture 1 (2007) 113–123.
LibreCat
M. Ali, S. Hessler, M. Welzl, S. Hellebrand, International Journal on High Performance Systems Architecture 1 (2007) 113–123.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13040
A Fault Tolerant Mechanism for Handling Permanent and Transient Failures in a Network on Chip
M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, S. Hellebrand, in: 4th International Conference on Information Technology: New Generations (ITNG’07), Las Vegas, Nevada, USA, 2007, pp. 1027–1032.
LibreCat
M. Ali, M. Welzl, S. Hessler, S. Hellebrand, in: 4th International Conference on Information Technology: New Generations (ITNG’07), Las Vegas, Nevada, USA, 2007, pp. 1027–1032.
2007 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13041
Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, in: 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Munich, Germany, 2007.
LibreCat
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, in: 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung “Zuverlässigkeit Und Entwurf,” Munich, Germany, 2007.
2006 | Journal Article | LibreCat-ID: 13045
DFG-Projekt RealTest - Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, It - Information Technology 48 (2006) 305–311.
LibreCat
B. Becker, I. Polian, S. Hellebrand, B. Straube, H.-J. Wunderlich, It - Information Technology 48 (2006) 305–311.
2005 | Misc | LibreCat-ID: 13046
A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking
P. Oehler, S. Hellebrand, A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking, Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany, 2005.
LibreCat
P. Oehler, S. Hellebrand, A Low Power Design for Embedded DRAMs with Online Consistency Checking, Kleinheubachertagung 2005, Miltenberg, Germany, 2005.
2005 | Misc | LibreCat-ID: 13101
Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs
M. Ali, M. Welzl, S. Hellebrand, Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
LibreCat
M. Ali, M. Welzl, S. Hellebrand, Dynamic Routing: A Prerequisite for Reliable NoCs, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
2005 | Misc | LibreCat-ID: 13102
Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study
P. Oehler, S. Hellebrand, Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
LibreCat
P. Oehler, S. Hellebrand, Power Consumption Versus Error Correcting Capabilities in Embedded DRAMs - A Case Study, 17th GI/ITG/GMM Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Innsbruck, Austria, 2005.
2005 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12999
Considerations for Fault-Tolerant Networks on Chips
M. Ali, M. Welzl, M. Zwicknagl, S. Hellebrand, in: IEEE International Conference on Microelectronics (ICM’05), IEEE, Islamabad, Pakistan, 2005.
LibreCat
| DOI
M. Ali, M. Welzl, M. Zwicknagl, S. Hellebrand, in: IEEE International Conference on Microelectronics (ICM’05), IEEE, Islamabad, Pakistan, 2005.
2005 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13000
Low Power Embedded DRAMs with High Quality Error Correcting Capabilities
P. Oehler, S. Hellebrand, in: 10th IEEE European Test Symposium (ETS’05), IEEE, Tallinn, Estonia, 2005, pp. 148–153.
LibreCat
| DOI
P. Oehler, S. Hellebrand, in: 10th IEEE European Test Symposium (ETS’05), IEEE, Tallinn, Estonia, 2005, pp. 148–153.
2005 | Conference Paper | LibreCat-ID: 12998
A Dynamic Routing Mechanism for Network on Chip
M. Ali, M. Welzl, S. Hellebrand, in: 23rd IEEE NORCHIP Conference, IEEE, Oulu, Finland, 2005, pp. 70–73.
LibreCat
| DOI
M. Ali, M. Welzl, S. Hellebrand, in: 23rd IEEE NORCHIP Conference, IEEE, Oulu, Finland, 2005, pp. 70–73.
2004 | Conference Paper | LibreCat-ID: 13071
Sensor Networks with More Features Using Less Hardware
M. Liu Jing, S. Ruehrup, C. Schindelhauer, K. Volbert, M. Dierkes, A. Bellgardt, R. Ibers, U. Hilleringmann, in: {GOR/NGB Conference Tilburg 2004}, Tilburg, Netherlands, 2004.
LibreCat
M. Liu Jing, S. Ruehrup, C. Schindelhauer, K. Volbert, M. Dierkes, A. Bellgardt, R. Ibers, U. Hilleringmann, in: {GOR/NGB Conference Tilburg 2004}, Tilburg, Netherlands, 2004.
2004 | Misc | LibreCat-ID: 13099
Im Westen viel Neues - Informatik an der Universität Innsbruck
R. Breu, T. Fahringer, D. Fensel, S. Hellebrand, A. Middeldorp, O. Scherzer, Im Westen Viel Neues - Informatik an Der Universität Innsbruck, OCG Journal, pp. 28-29, 2004.
LibreCat
R. Breu, T. Fahringer, D. Fensel, S. Hellebrand, A. Middeldorp, O. Scherzer, Im Westen Viel Neues - Informatik an Der Universität Innsbruck, OCG Journal, pp. 28-29, 2004.
2004 | Misc | LibreCat-ID: 13100
Data Compression for Multiple Scan Chains Using Dictionaries with Corrections
S. Hellebrand, A. Wuertenberger, C. S. Tautermann, Data Compression for Multiple Scan Chains Using Dictionaries with Corrections, 9th IEEE European Test Symposium, Ajaccio, Corsica, France, 2004.
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S. Hellebrand, A. Wuertenberger, C. S. Tautermann, Data Compression for Multiple Scan Chains Using Dictionaries with Corrections, 9th IEEE European Test Symposium, Ajaccio, Corsica, France, 2004.